检测项目
1. 电容值偏差:测量实际值与标称值的差异范围(±5%至±20%)
2. 介质损耗角正切(tanδ):测试频率1kHz-1MHz时损耗值≤0.002
3. 绝缘电阻:直流500V下阻值≥10^12Ω·cm
4. 温度特性:-55℃至+125℃范围内电容变化率≤±15%
5. 频率特性:1MHz时容量衰减率≤5%
检测范围
1. FR-4/高频PCB基板(介电常数4.2-4.8)
2. 同轴电缆/双绞线(工作频率DC-40GHz)
3. MLCC片式电容器(容量0.1pF-100μF)
4. 聚酰亚胺薄膜(厚度12.5-125μm)
5. 半导体封装基板(线宽/间距≤20μm)
检测方法
1. ASTM D150-18:固体电绝缘材料交流损耗特性及介电常数标准测试
2. IEC 60250:1969:测量电气绝缘材料在工频、音频及射频下介电性能
3. GB/T 1409-2006:测量固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率
4. JIS C2565:2019:高频电路用陶瓷介质电容器试验方法
5. GB/T 17737.1-2018:同轴通信电缆第1部分:总规范
检测设备
1. Keysight E4980A精密LCR表(20Hz-2MHz/0.05%精度)
2. Agilent 4294A阻抗分析仪(40Hz-110MHz/0.08%基本精度)
3. Chroma 19032耐压测试仪(AC 5kV/DC 6kV)
4. ESPEC TPH-202温度冲击箱(-70℃~+180℃转换<5秒)
5. Anritsu MS46322B矢量网络分析仪(10MHz-26.5GHz)
6. Mitsubishi HV-12H高阻计(测量范围10^3~10^18Ω)
7. Hioki IM3590化学阻抗分析仪(4Hz-200MHz/±0.05%)
8. Thermo Scientific CIRUS 1100介质分析系统(带三电极夹具)
9. Tektronix AFG31000任意波形发生器(1μHz-120MHz)
10. Gauss Instruments EM-6992近场探头组(9kHz-6GHz)