薄膜光谱检测

检测项目

1. 膜层厚度测量：精度±0.5nm（50-5000nm范围）

2. 透射光谱分析：190-2500nm全波段扫描

3. 反射率测定：8°入射角下400-1000nm反射曲线

4. 吸收系数计算：基于Tauc-Lorentz模型拟合

5. 折射率分布：椭偏法测量n/k值（波长632.8nm）

检测范围

1. 光学薄膜：增透膜/反射膜/滤光片

2. 光伏薄膜：CIGS/CdTe/钙钛矿组件

3. 包装薄膜：BOPP/PET/EVOH阻隔层

4. 半导体薄膜：ALD/CVD沉积介质层

5. 功能涂层：ITO透明导电膜/AR涂层

检测方法

ASTM E903-20 材料太阳吸收比测试规范

ISO 13468-1:2019 塑料透光率测定方法

GB/T 26323-2010 光学功能薄膜雾度测试标准

JIS K 7136:2021 塑料薄膜紫外线透过率试验

GB/T 36226-2018 柔性显示用透明导电膜测试规范

检测设备

1. PerkinElmer Lambda 1050+：双光束分光光度计（190-3300nm）

2. J.A.Woollam M-2000UI：宽谱椭偏仪（193-1700nm）

3. Agilent Cary 7000 UMS：全自动变角光度计

4. Bruker D8 Discover：X射线反射仪（XRR）

5. Filmetrics F20-UV：薄膜厚度快速测量系统

6. Shimadzu UV-3600i Plus：积分球附件系统

7. Ocean Insight FX2000：光纤光谱实时监测装置

8. Horiba UVISEL 2：相位调制型椭偏仪

9. Thermo Scientific Nicolet iS50：FTIR光谱联用系统

10. ZEISS Axio Imager.M2m：显微光谱成像平台

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"薄膜光谱检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。