检测项目
1. 零色散波长值测定（测量范围：1260-1675nm，精度±0.1nm）
2. 色散斜率测量（分辨率≤0.01ps/nm²·km）
3. 温度系数测试（-40℃~85℃，步进精度±0.1℃）
4. 偏振模色散分析（重复性误差＜0.02ps/√km）
5. 非线性折射率表征（测量灵敏度10⁻²⁰ m²/W）
检测范围
1. 单模/多模光纤（G.652D/G.651）
2. 光子晶体光纤（空芯/实芯结构）
3. 硅基光波导器件（SOI平台制备）
4. 红外硫系玻璃光纤（Ge-As-Se体系）
5. 聚合物光缆（PMMA/PC基材）
检测方法
1. 相位漂移法（ITU-T G.650.1第3.3节）
2. 四波混频技术（ASTM E2935-17）
3. 干涉光谱分析法（ISO 18434-2:2012）
4. 时域拉伸脉冲法（GB/T 15972.40-2021）
5. 调制相移法（GB/T 33779.2-2017）
检测设备
1. EXFO FTB-8800光谱分析仪（分辨率0.02nm）
2. Keysight N7714A可调谐激光源（波长范围1520-1630nm）
3. Luna OVA5000光矢量分析系统（PMD测量精度±0.01ps）
4. Anritsu MS9740B OSA光谱仪（动态范围80dB）
5. Santec TSL-570高功率ASE光源（输出功率+23dBm）
6. Thorlabs PMD2000偏振控制器（响应时间＜10ms）
7. Agilent 81600B可调谐激光模块（线宽＜100kHz）
8. Yokogawa AQ6370D长波长光谱分析仪（1200-2400nm）
9. Vytran FFS-2000光纤熔接系统（轴向对准精度±0.1μm）
10. Aragon Photonics BOSA4000布里渊分析仪（应变分辨率1με）