检测项目

1. 纯度检测：总锗含量≥99.999%，非金属杂质总量≤10ppm

2. 粒度分布：D50值0.5-50μm可调范围测试，跨度系数≤1.2

3. 杂质元素分析：Al/Fe/Cu/Ni/Sb等13种金属元素单项≤1ppm

4. 氧含量测定：氧元素含量≤200ppm（惰性气体熔融法）

5. 物相结构表征：立方晶系占比≥98%（XRD半定量分析）

检测范围

1. 半导体级锗粉：用于晶体管、二极管基材制备

2. 红外光学锗粉：8-14μm波段透过率≥45%的专用材料

3. 催化剂用锗粉：PET树脂合成催化体系原料

4. 光伏级锗粉：空间太阳能电池衬底材料

5. 核辐射探测锗粉：高纯锗探测器单晶生长原料

检测方法

1. GB/T 11069-2020《高纯二氧化锗化学分析方法》

2. ASTM B822-20《金属粉末粒度分布的激光衍射测定》

3. ISO 17058:2020《钢铁中砷、锑含量的测定》

4. GB/T 4324.15-2023《钨化学分析方法第15部分：氧量的测定》

5. JY/T 009-2023《多晶X射线衍射方法通则》

检测设备

1. Thermo Fisher iCAP RQ ICP-MS：痕量金属元素定量分析（检出限0.01ppb）

2. Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪：0.01-3500μm粒径分布测试

3. LECO ONH836氧氮氢分析仪：氧含量精确测定（精度±0.1ppm）

4. Rigaku SmartLab X射线衍射仪：物相结构解析（角度重复性±0.0001°）

5. Agilent 8900 ICP-MS/MS：高基质样品中超痕量杂质分析

6. Shimadzu EDX-8000 X荧光光谱仪：快速半定量筛查（元素范围Na-U）

7. Micromeritics ASAP 2460比表面仪：BET比表面积测试（精度±0.01m²/g）

8. Mettler Toledo TGA/DSC3+热重分析仪：挥发分及热稳定性测试（分辨率0.1μg）

9. Horiba LA-960激光散射仪：纳米级颗粒分散性评估（测量范围0.01-3000μm）

10. Bruker S8 TIGER波长色散X荧光光谱仪：主量元素快速定量（精度±0.02%）