检测项目
1. 非线性折射率(n₂)：测量波长范围400-1600nm，精度±5%
2. 双光子吸收系数(β)：测试强度阈值10⁴-10¹² W/cm²
3. 克尔效应响应时间：分辨率达10fs级
4. 自相位调制系数：动态范围60dB
5. 谐波转换效率：涵盖二次/三次谐波分析
检测范围
1. 铌酸锂(LiNbO₃)、BBO等非线性光学晶体
2. GaAs、InP等III-V族半导体材料
3. 硫系玻璃光纤及光子晶体光纤
4. PMMA、PC等高分子聚合物薄膜
5. 量子点复合材料及二维材料异质结
检测方法
1. Z扫描法：依据ISO 21254-1:2011标准
2. 四波混频法：符合ASTM E2283-08规范
3. 超连续谱分析法：参照GB/T 30117-2013
4. 泵浦探测技术：执行GB/T 39143-2020规程
5. 空间自相位调制法：采用ISO 18434-1:2008
检测设备
1. Thorlabs PM320E高灵敏度功率计：动态范围0.1nW-10W
2. Coherent Astrella飞秒激光器：脉宽<35fs，波长可调
3. Andor SR-500i光谱仪：分辨率0.05nm@532nm
4. Newport M-UTM高精度位移台：重复定位精度±0.1μm
5. Hamamatsu C13340光电探测器：响应时间0.5ns
6. Keysight DSOX92504A示波器：带宽25GHz
7. Ophir PE50BF-DIF-C能量探头：损伤阈值10J/cm²
8. PI P-621.CL压电控制器：闭环分辨率0.03nm
9. Ocean Insight HL-2000卤钨灯光源：光谱范围360-2400nm
10. Labsphere LMS-760积分球：直径150mm±0.5%