检测项目
1. 主成分纯度测定：MoI₂含量≥99.5%（质量分数）
2. 水分含量检测：卡尔费休法测定游离水≤0.1%
3. 粒度分布分析：D50值控制在1-10μm范围（激光衍射法）
4. 重金属杂质检测：Pb≤10ppm、Cd≤5ppm（ICP-MS法）
5. 晶体结构表征：XRD法验证α-MoI₂特征峰（2θ=12.3°,24.7°,37.2°）
检测范围
1. 高纯碘化钼粉末材料（纯度≥99.9%）
2. 化学气相沉积用MoI₂前驱体
3. 锂离子电池固态电解质薄膜
4. 有机合成催化剂原料
5. 半导体掺杂用单晶材料
检测方法
1. X射线衍射分析（XRD）：ASTM E975-20《材料晶体结构测定标准指南》
2. 电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）：GB/T 23942-2009《化学试剂中杂质测定通用方法》
3. 热重分析法（TGA）：ISO 11358-1:2022《塑料聚合物热重分析法》
4. 扫描电子显微镜（SEM）：GB/T 27788-2020《微束分析扫描电镜方法通则》
5. 紫外可见分光光度法：GB/T 9721-2006《化学试剂分子吸收分光光度法通则》
检测设备
1. Rigaku SmartLab X射线衍射仪：配备9kW旋转阳极靶，角度精度±0.0001°
2. Thermo Fisher iCAP RQ ICP-MS：检出限达ppt级，质量范围2-290amu
3. Mettler Toledo TGA/DSC3+：温度范围25-1600℃，分辨率0.1μg
4. Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪：测量范围0.01-3500μm
5. Metrohm 899 Coulometric Karl Fischer滴定仪：水分检测下限0.001%
6. Shimadzu UV-2600i分光光度计：波长范围185-900nm，带宽0.1/0.5/1/2/5nm
7. JEOL JSM-IT800扫描电镜：分辨率1nm@15kV，放大倍数×30-×1,000,000
8. PerkinElmer STA8000同步热分析仪：TGA/DSC同步测量精度±0.1℃
9. Agilent 7890B气相色谱仪：配备FID/ECD双检测器系统
10.Bruker D8 ADVANCE XRD系统：DaVinci设计几何结构，测角仪精度±0.0001°