检测项目

1.主成分分析：测定Bi₂Te₃、Bi₂Te₂S等化合物含量（精度0.5wt%）
2.杂质元素检测：Ag、Cu、Pb等13种痕量元素（检出限0.001-0.1ppm）
3.晶体结构表征：晶格常数测定（误差≤0.002），空间群解析
4.热电性能测试：塞贝克系数（3%）、热导率（5%）
5.机械性能评估：维氏硬度（HV0.5）、断裂韧性（KIC）

检测范围

1.天然辉碲铋矿原石及精矿粉体（粒径≤150μm）
2.半导体用单晶/多晶Bi₂Te₃基材料
3.热电制冷器件封装模块
4.纳米级Bi-Te-S复合粉末（D50:20-200nm）
5.薄膜太阳能电池用溅射靶材（纯度≥99.995%）

检测方法

1.X射线荧光光谱法（GB/T17434-2020）主量元素分析
2.电感耦合等离子体质谱法（ISO17294-2:2016）痕量杂质测定
3.X射线衍射全谱拟合（Rietveld法/ASTME1621-21）晶体结构解析
4.激光闪射法（ASTME1461-13）热扩散系数测试
5.四探针法（GB/T1551-2009）电阻率测量

检测设备

1.RigakuZSXPrimusIVX射线荧光光谱仪（元素定量分析）
2.ThermoFisheriCAPRQICP-MS（超痕量元素检测）
3.BrukerD8ADVANCEXRD系统（晶体结构分析）
4.NetzschLFA467HyperFlash激光导热仪（热物性测试）
5.KeysightB2902A精密源表（电输运特性测量）
6.HitachiSU5000场发射扫描电镜（微区形貌观测）
7.ShimadzuHMV-G21ST显微硬度计（机械性能测试）
8.LinseisLSR-3塞贝克系数测量系统（热电参数分析）
9.MalvernMastersizer3000激光粒度仪（粉体粒径分布）
10.PerkinElmerSTA8000同步热分析仪（TG-DSC联用）