检测项目

1.表面形貌分析：分辨率≤0.1nm（垂直方向），扫描范围100μm100μm

2.表面粗糙度测量：Ra（算术平均粗糙度）精度0.05nm

3.力学性能测试：弹性模量测量范围0.1kPa-100GPa

4.粘附力检测：力灵敏度≤10pN

5.电学特性表征：电流分辨率≤1pA（导电探针模式）

检测范围

1.半导体材料：硅片、GaN薄膜的台阶高度与缺陷分析

2.生物样品：DNA分子链形态及细胞膜弹性模量测定

3.高分子材料：聚合物表面相分离结构与纳米压痕测试

4.金属材料：晶界形貌与微区摩擦系数测量

5.二维材料：石墨烯层数判定与边缘缺陷表征

检测方法

ISO11039:2011纳米技术-原子力显微镜校准规范

ASTME2859-11原子力显微镜探针弹性常数标定方法

GB/T31227-2014原子力显微镜测量纳米薄膜厚度的方法

ISO19606:2017纤维增强复合材料界面性能AFM测试规程

GB/T35031-2018微机电系统器件表面形貌AFM测量标准

检测设备

1.BrukerDimensionIcon：配备ScanAsyst模式，实现自适应表面形貌成像

2.Keysight5500SPM：集成电化学模块，支持液相环境原位测试

3.ParkSystemsNX20：采用TrueNon-Contact模式，探针寿命延长3倍

4.OxfordInstrumentsCypherES：配置蓝光热漂移补偿系统，温控精度0.1℃

5.HitachiAFM5100N：集成高速扫描器（20帧/秒），适用于动态过程观测

6.NT-MDTNTEGRAPrima：配备拉曼光谱联用接口，实现化学校准分析

7.JEOLJSPM-5200：搭载真空样品室（10^-5Pa），满足超洁净表面测试需求

8.WITecalpha300AR：整合共聚焦显微镜模块，支持多模态关联成像

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与原子力显微镜检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。