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粒子能谱仪检测

  • 原创官网
  • 2025-05-13 20:38:32
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粒子能谱仪检测概述:粒子能谱仪是分析材料中带电粒子能量分布的核心设备,广泛应用于核物理、材料科学及环境监测领域。本文系统阐述其检测项目、适用材料范围、标准化方法及主流设备参数,重点涵盖能量分辨率校准、本底噪声控制、探测器效率验证等关键技术指标,为实验室及工业检测提供专业参考依据。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

1.能量分辨率校准:测量FWHM(半高全宽)≤0.1%@5.9keV(55Fe源)

2.探测效率验证:覆盖20keV-3MeV能量范围,效率偏差≤2%

3.本底噪声测试:积分本底≤10cps(无屏蔽环境)

4.线性度校正:能量-道址线性相关系数R≥0.9999

5.温度稳定性测试:-20℃至50℃工作区间内峰位漂移≤0.01%/℃

检测范围

1.半导体材料:硅/锗晶圆中α粒子污染检测

2.核燃料元件:铀/钚同位素丰度分析

3.环境样本:土壤/水体中210Pb、137Cs等放射性核素测定

4.医疗设备:PET显像剂中β+衰变粒子能谱分析

5.航天材料:太阳风粒子通量及能谱特性表征

检测方法

ASTME2677-21《放射性核素能谱分析标准指南》

ISO18589-4:2019《环境辐射测量-土壤中α谱法》

GB/T11743-2013《土壤中放射性核素的γ能谱分析方法》

GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》

IEC61452:2021《核仪器-α粒子能谱仪性能测试方法》

检测设备

1.ORTECAlphaAnalyst:双面钝化硅探测器(DSSD),能量分辨率<16keVFWHM@5.48MeV

2.CanberraBE5030:高纯锗探测器(HPGe),相对效率≥40%@1.33MeV

3.MirionTechnologiesPIPS-450:450mm有效面积硅探测器,厚度300μm

4.AMETEKX-123CdTe:碲锌镉半导体探测器(CZT),工作温度-20~40℃

5.KromekGR1:氦气正比计数器,能量范围3keV-10MeV

6.ThermoScientificDeltaPlus:飞行时间能谱仪(TOF),质量分辨率m/Δm≥2000

7.BrukerS2PUMA:微束X射线荧光能谱仪(μ-XRF),束斑尺寸≤25μm

8.RigakuNEXCG:波长色散型能谱仪(WDS),检出限≤10ppm

9.JEOLJED-2300:锂漂移硅探测器(Si(Li)),Be窗厚度0.3μm

10.ShimadzuEDX-8000:硅漂移探测器(SDD),最大输入计数率200kcps

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与粒子能谱仪检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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