检测项目

1.二氧化硅含量测定：纯度≥99.95%（ICP-OES法）

2.晶型结构分析：α-石英与β-石英相变温度点（DSC法）

3.粒度分布测试：D10≤2μm/D50=5-15μm/D90≤30μm（激光衍射法）

4.重金属残留量：Pb≤5ppm/Cd≤0.5ppm/As≤1ppm（石墨炉AAS）

5.热膨胀系数：20-800℃区间CTE≤0.5510^-6/℃（热机械分析仪）

检测范围

1.光伏级多晶硅原料预处理用高纯斯担硅石

2.精密铸造行业脱模剂专用改性硅石粉体

3.电子级环氧树脂封装材料填充用球形硅石微粉

4.高温窑具承烧板制造用莫来石-硅石复合材料

5.半导体晶圆抛光液配比用纳米级硅石悬浮液

检测方法

ASTMC146-20《硅质耐火材料化学分析方法》

ISO13320:2020《粒度分析-激光衍射法通则》

GB/T14353.16-2021《岩石矿物化学分析第16部分：电感耦合等离子体发射光谱法》

ISO17561:2016《精细陶瓷高温弹性模量试验方法》

GB/T3074.1-2016《石墨电极热膨胀系数测定方法》

检测设备

1.PerkinElmerOptima8300ICP-OES：痕量元素定量分析（检出限0.01ppm）

2.MalvernMastersizer3000E激光粒度仪：0.01-3500μm粒径分布测定

3.NetzschDIL402C热膨胀仪：-150℃~1550℃线性膨胀系数测量

4.RigakuSmartLabX射线衍射仪：晶体结构解析及物相定量分析

5.MettlerToledoTGA/DSC3+同步热分析仪：相变温度与热稳定性测试

6.Agilent240Z石墨炉原子吸收光谱仪：ppb级重金属元素检测

7.ZeissSigma500场发射电镜：微观形貌观察及EDS成分测绘

8.BrookhavenBI-200SM动态光散射仪：纳米颗粒Zeta电位测定