检测项目

1.荧光量子产率（Φ）：测量范围0.001-1.0，精度0.5%

2.激发光谱响应：波长范围200-1100nm，分辨率≤0.5nm

3.载流子寿命：时间分辨率10ps-10ms，误差3%

4.缺陷态密度：灵敏度≥110cm⁻

5.光致发光强度：动态范围60dB，重复性1%

检测范围

1.III-V族半导体材料（GaAs、InP等）

2.钙钛矿光伏薄膜

3.有机发光二极管（OLED）材料

4.生物荧光标记物（量子点、罗丹明等）

5.稀土掺杂发光材料

检测方法

1.ASTME2143-01(2020)荧光量子产率测定标准

2.ISO20504:2020半导体材料光致发光测试规范

3.GB/T39145-2020晶体缺陷光激发检测方法

4.JISK0129:2018时间分辨荧光光谱测试规程

5.IEC62607-6-13:2021纳米材料光学特性表征指南

检测设备

1.HoribaFluoroMax-4Pro：配备TCSPC模块，时间分辨率达25ps

2.EdinburghInstrumentsFLS1000：集成氙灯与激光光源系统

3.AgilentCaryEclipse：支持三维荧光扫描功能

4.PerkinElmerLS55：配备温控样品仓（-196℃~300℃）

5.OceanInsightQEPro-FL：微型光纤光谱仪（200-1050nm）

6.PicoQuantFluoTime300：皮秒激光器（375-850nm）

7.HamamatsuC11347-11：近红外探测器（900-1700nm）

8.BrukerVertex80v：真空紫外傅里叶光谱系统（145nm起）

9.AndorShamrockSR-500i：三光栅光谱仪（焦距500mm）

10.LabsphereLMS-7600：积分球光谱响应测试系统