检测项目

1.荧光量子产率(Φ):测量范围0.001-1.0,精度0.5%

2.激发光谱响应:波长范围200-1100nm,分辨率≤0.5nm

3.载流子寿命:时间分辨率10ps-10ms,误差3%

4.缺陷态密度:灵敏度≥110cm⁻

5.光致发光强度:动态范围60dB,重复性1%

检测范围

1.III-V族半导体材料(GaAs、InP等)

2.钙钛矿光伏薄膜

3.有机发光二极管(OLED)材料

4.生物荧光标记物(量子点、罗丹明等)

5.稀土掺杂发光材料

检测方法

1.ASTME2143-01(2020)荧光量子产率测定标准

2.ISO20504:2020半导体材料光致发光测试规范

3.GB/T39145-2020晶体缺陷光激发检测方法

4.JISK0129:2018时间分辨荧光光谱测试规程

5.IEC62607-6-13:2021纳米材料光学特性表征指南

检测设备

1.HoribaFluoroMax-4Pro:配备TCSPC模块,时间分辨率达25ps

2.EdinburghInstrumentsFLS1000:集成氙灯与激光光源系统

3.AgilentCaryEclipse:支持三维荧光扫描功能

4.PerkinElmerLS55:配备温控样品仓(-196℃~300℃)

5.OceanInsightQEPro-FL:微型光纤光谱仪(200-1050nm)

6.PicoQuantFluoTime300:皮秒激光器(375-850nm)

7.HamamatsuC11347-11:近红外探测器(900-1700nm)

8.BrukerVertex80v:真空紫外傅里叶光谱系统(145nm起)

9.AndorShamrockSR-500i:三光栅光谱仪(焦距500mm)

10.LabsphereLMS-7600:积分球光谱响应测试系统