检测项目

1.化学成分分析：测定Na₂SiF₆含量（≥98%）、游离氟离子（≤0.3%）、重金属杂质（Pb≤50ppm）

2.晶体结构表征：XRD分析晶相纯度（半峰宽≤0.15）、晶胞参数测定（a=9.230.02）

3.物理性能测试：密度（2.680.03g/cm）、莫氏硬度（4.5-5.0级）

4.热稳定性评估：TG-DSC联用测定分解温度（≥400℃）、相变焓值

5.粒度分布检测：激光衍射法测定D50值（10-50μm）、粒径跨度（Span≤1.8）

检测范围

1.陶瓷工业用氟硅钠石原料

2.玻璃蚀刻剂成品及半成品

3.地质矿物标本鉴定

4.水处理剂工业级产品

5.特种涂料功能性填料

检测方法

ASTMC1468-19《X射线粉末衍射定量相分析标准规程》

ISO21068-2:2008《含硅耐火材料化学分析方法》

GB/T14353.16-2021《岩石矿物化学分析第16部分：氟量测定》

GB/T14506.30-2020《硅酸盐岩石化学分析方法第30部分：六氟硅酸钠测定》

JISK0115:2021《荧光X射线分析法通则》

检测设备

RigakuSmartLabX射线衍射仪：配备HyPix-3000探测器，θ/θ测角仪精度0.0001

ThermoScientificARLPERFORM'XX荧光光谱仪：4kW铑靶管，可测F元素至0.01%

MalvernMastersizer3000激光粒度仪：测量范围0.01-3500μm，干湿法双模系统

PerkinElmerTGA8000热重分析仪：温度范围25-1000℃，分辨率0.1μg

BrukerD8ADVANCEXRD系统：配备LYNXEYEXE-T探测器，扫描速度5000步/秒

Agilent5110ICP-OES光谱仪：轴向观测等离子体技术，检出限达ppb级

MettlerToledoXS204分析天平：量程220g，精度0.1mg

ShimadzuUV-2600i分光光度计：带宽0.1-5nm可调，波长范围185-900nm