弥散沉淀物检测

检测项目1.粒径分布:测量D10/D50/D90值及跨度系数(SpanIndex),分析范围0.1-100μm2.体积分数:采用图像分析法测定第二相占比(0.1%-15%V/V)3.形态分析:计算球形度(Sphericity≥0.85)、长径比(AspectRatio≤3:1)4.界面结合强度:通过纳米压痕法测试界面结合能(≥5J/m)5.元素分布:EDS线扫描测定元素扩散层厚度(≤200nm)检测范围1.金属基复合材料:铝合金/钛合金基体中的SiC、Al₂O₃增强相2.高分子复合材料:环氧树脂体系中的纳

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检测项目

1.粒径分布:测量D10/D50/D90值及跨度系数(SpanIndex),分析范围0.1-100μm

2.体积分数:采用图像分析法测定第二相占比(0.1%-15%V/V)

3.形态分析:计算球形度(Sphericity≥0.85)、长径比(AspectRatio≤3:1)

4.界面结合强度:通过纳米压痕法测试界面结合能(≥5J/m)

5.元素分布:EDS线扫描测定元素扩散层厚度(≤200nm)

检测范围

1.金属基复合材料:铝合金/钛合金基体中的SiC、Al₂O₃增强相

2.高分子复合材料:环氧树脂体系中的纳米SiO₂分散相

3.陶瓷材料:ZrO₂增韧Al₂O₃基体中的相变颗粒

4.制药粉末:药物活性成分的结晶型态及团聚程度

5.电子材料:焊锡合金中的Ag₃Sn金属间化合物分布

检测方法

1.ASTMB822-20:金属粉末粒度分布的激光衍射法测定

2.ISO13322-1:2014:静态图像分析法测定颗粒形状参数

3.GB/T19077-2016:粒度分布的激光衍射法通用要求

4.ASTME112-13:金相试样平均晶粒度的测定方法

5.GB/T21865-2008:颗粒体系Zeta电位测试的电泳光散射法

检测设备

1.MalvernMastersizer3000:激光衍射粒度分析仪(0.01-3500μm)

2.ZeissSigma500:场发射扫描电镜(分辨率0.8nm@15kV)

3.ShimadzuHMV-G21:显微硬度计(载荷0.01-2000gf)

4.BrukerDimensionIcon:原子力显微镜(分辨率0.1nm)

5.HoribaSZ-100Z:纳米粒度及Zeta电位分析仪(0.3nm-8μm)

6.LeicaDM2700M:智能正置金相显微镜(1500光学放大)

7.NetzschSTA449F5:同步热分析仪(TG-DSC联用)

8.OxfordInstrumentsUltimMax170:大面积能谱仪(100mm探测器)

9.Agilent7900ICP-MS:电感耦合等离子体质谱仪(ppt级检出限)

10.KeyenceVHX-7000:数字显微系统(20-6000连续变倍)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

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{{ groups[lb.g].items[lb.i].t }}({{ lb.i+1 }} / {{ groups[lb.g].items.length }})

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