检测项目

1.反射率测试：波长650nm处反射系数≥65%，扫描精度0.5%

2.误码率测定：原始误码率≤110⁻⁴，纠错后≤110⁻

3.加速老化测试：85℃/85%RH环境下持续96小时数据完整性验证

4.基板翘曲度：径向偏差≤0.6mm，切向偏差≤0.4mm

5.记录层厚度：染料层12010nm，金属反射层505nm

6.刻录功率敏感性：最优功率偏差范围10%

检测范围

1.CD-R类：酞菁/偶氮染料基有机记录介质

2.DVDR类：金属化偶氮化合物相变材料

3.BD-R类：无机合金记录层（AgInSbTe）蓝光介质

4.M-DISC类：岩石基无机记录层归档光盘

5.特殊环境用光盘：抗辐射/耐腐蚀涂层处理介质

检测方法

1.ISO/IEC10995:2011《光学介质寿命评估-温度湿度法》

2.ASTMF2621-07《光盘径向翘曲度激光测量法》

3.GB/T26225-2010《信息技术存储介质环境适应性要求》

4.ECMA-379《120mmBD可录光盘机械特性》

5.JISX6243《CD-R/DVD-R加速老化试验规程》

检测设备

1.OptiDiscOD-3000：多波长（405/650/780nm）反射率分析仪

2.AdvantestQ6327：高精度误码率测试系统（BER≤1E-15）

3.ESPECPL-3KPH：三综合试验箱（温湿度+振动）

4.MitutoyoCrysta-ApexS776：非接触式三维形貌仪（精度0.1μm）

5.HoribaUVISEL2：椭圆偏振光谱仪（膜厚测量分辨率0.1nm）

6.ShimadzuMCT-1150：动态机械分析仪（热变形温度测定）

7.BrukerContourGT-X3：白光干涉表面粗糙度分析仪

8.Agilent8703B：激光功率校准系统（波长范围400-830nm）