


概述:检测项目1.反射率测试:波长650nm处反射系数≥65%,扫描精度0.5%2.误码率测定:原始误码率≤110⁻⁴,纠错后≤110⁻3.加速老化测试:85℃/85%RH环境下持续96小时数据完整性验证4.基板翘曲度:径向偏差≤0.6mm,切向偏差≤0.4mm5.记录层厚度:染料层12010nm,金属反射层505nm6.刻录功率敏感性:最优功率偏差范围10%检测范围1.CD-R类:酞菁/偶氮染料基有机记录介质2.DVDR类:金属化偶氮化合物相变材料3.BD-R类:无机合金记录层(AgInSbTe)蓝光介质4.
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人委托除外)。
因篇幅原因,CMA/CNAS/ISO证书以及未列出的项目/样品,请咨询在线工程师。
1.反射率测试:波长650nm处反射系数≥65%,扫描精度0.5%
2.误码率测定:原始误码率≤110⁻⁴,纠错后≤110⁻
3.加速老化测试:85℃/85%RH环境下持续96小时数据完整性验证
4.基板翘曲度:径向偏差≤0.6mm,切向偏差≤0.4mm
5.记录层厚度:染料层12010nm,金属反射层505nm
6.刻录功率敏感性:最优功率偏差范围10%
1.CD-R类:酞菁/偶氮染料基有机记录介质
2.DVDR类:金属化偶氮化合物相变材料
3.BD-R类:无机合金记录层(AgInSbTe)蓝光介质
4.M-DISC类:岩石基无机记录层归档光盘
5.特殊环境用光盘:抗辐射/耐腐蚀涂层处理介质
1.ISO/IEC10995:2011《光学介质寿命评估-温度湿度法》
2.ASTMF2621-07《光盘径向翘曲度激光测量法》
3.GB/T26225-2010《信息技术存储介质环境适应性要求》
4.ECMA-379《120mmBD可录光盘机械特性》
5.JISX6243《CD-R/DVD-R加速老化试验规程》
1.OptiDiscOD-3000:多波长(405/650/780nm)反射率分析仪
2.AdvantestQ6327:高精度误码率测试系统(BER≤1E-15)
3.ESPECPL-3KPH:三综合试验箱(温湿度+振动)
4.MitutoyoCrysta-ApexS776:非接触式三维形貌仪(精度0.1μm)
5.HoribaUVISEL2:椭圆偏振光谱仪(膜厚测量分辨率0.1nm)
6.ShimadzuMCT-1150:动态机械分析仪(热变形温度测定)
7.BrukerContourGT-X3:白光干涉表面粗糙度分析仪
8.Agilent8703B:激光功率校准系统(波长范围400-830nm)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"一次性写入多次读出光盘检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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