检测项目

1.噪声系数测量：频率范围1GHz-40GHz，动态精度0.3dB

2.相位噪声分析：偏移频率1Hz-1MHz范围内单边带相位噪声≤-120dBc/Hz

3.等效输入噪声温度：测试范围50K-300K（等效温度单位）

4.噪声功率谱密度：分辨率带宽1Hz-10MHz内功率密度测量误差≤1.5dB

5.幅度噪声特性：动态范围-120dBm至+20dBm的幅度波动监测

检测范围

1.微波通信模块（基站功放/低噪放组件）

2.射频集成电路（MMIC/RFIC芯片）

3.高频半导体器件（GaAs/GaN晶体管）

4.微波介质材料（LTCC/陶瓷基板介电损耗测试）

5.雷达系统组件（T/R模块/波导器件）

检测方法

ASTMF1502-2018：微波器件噪声系数冷源测试标准方法

ISO16870:2015：电子系统电磁干扰测量通用规范

GB/T11454-2018：微波器件相位噪声测试技术要求

IEC62037-6:2020：无源互调及噪声功率测量程序

GB9254-2008：信息技术设备无线电骚扰限值及测量方法

检测设备

KeysightN9041B信号分析仪：支持50GHz频段相位噪声测量

Rohde&SchwarzFSWP相位噪声分析仪：偏移频率0.01Hz至1GHz高精度测试

AnritsuMN4765B噪声系数分析仪：内置ENR校准源及自动补偿算法

Ceyear3674C矢量网络分析仪：支持S参数与噪声参数同步测量

AgilentN8975A噪声系数测试仪：频率覆盖10MHz至26.5GHz

NIPXIe-5668E频谱监测系统：多通道实时噪声功率监测平台

TektronixRSA5180B实时频谱仪：100MHz瞬时带宽的瞬态噪声捕获

NoisecomUFX7000A宽带噪声源：ENR值0-35dB可编程校准装置

BerkeleyNucleonics710超低噪信号发生器：相位噪声性能-175dBc/Hz@10kHz偏移

EMCProEMC3000电磁兼容测试系统：符合CISPR16-1-1标准的辐射噪声评估