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片式电容器测试

  • 原创官网
  • 2025-02-22 15:21:45
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片式电容器测试概述:片式电容器作为电子电路核心元件,其性能直接影响设备稳定性与寿命。本文系统阐述片式电容器检测的专业流程,涵盖电容量、耐压强度、绝缘电阻、损耗角正切及温度特性等核心参数,依据IEC60384、ASTMD150等国际标准建立检测体系,适用于陶瓷介质、薄膜材料等多类产品验证,为行业提供科学严谨的质量评估方案。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

电容量偏差:标称值±5%范围内,测试频率1kHz±10%

耐压强度:额定电压2.5倍持续60秒无击穿(Class II电容)

绝缘电阻:≥10GΩ(100V/25℃条件下)

损耗角正切(tanδ):≤0.025(1MHz测试频率)

温度特性:-55℃~+125℃温漂率≤±15%

机械强度:施加5N推力持续10秒无结构损伤

检测范围

陶瓷介质电容器:X7R/X5R/NPO等MLCC产品

薄膜电容器:聚丙烯(PP)、聚酯(PET)基材

铝电解电容器:固态/液态电解质结构

高分子电容器:导电聚合物体系

高温电容器:150℃以上工作环境专用型

检测方法

电容量测试:依据IEC 60384-8采用四线法测量,消除接触电阻影响

耐压试验:按IEC 60384-14执行阶梯升压法,升压速率100V/s

绝缘电阻测试:采用ASTM D257标准,施加100V DC电压60秒后读数

损耗角测量:基于ASTM D150规范,使用自动平衡电桥技术

温度循环测试:参照MIL-STD-202 Method 107G进行5周期循环

检测设备

精密LCR表:Keysight E4980A(20Hz-2MHz,基本精度0.05%)

高压耐压测试仪:Chroma 19050(0-5kV AC/DC,分辨率1V)

高阻计系统:HIOKI IM3570(10^4~10^16Ω测量范围)

热冲击试验箱:ESPEC TSE-11-A(-70℃~+180℃转换时间<5秒)

微欧计:Keithley 6221+2182A(1nΩ分辨率四线测量)

技术优势

获得CNAS(CNAS 详情请咨询工程师)和ILAC国际互认资质

检测环境符合IEC 60068-2-78标准(温度23±2℃,湿度50±5%RH)

溯源体系通过NIM校准认证,测量不确定度<0.1%

配备电磁屏蔽室(30dB@1GHz)消除环境干扰

数据采集系统符合21 CFR Part 11电子记录规范

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与片式电容器测试相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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