片式电容器测试

检测项目

1. 基础电性能检测：

• 标称电容量与容差：测量值与标称值偏差（±5%~±20%，依据EIA RS-198）
• 介质损耗角正切（DF值）：1kHz下DF≤0.025（IEC 60384-8）
• 绝缘电阻（IR）：≥10 GΩ 或 RC≥1000秒（100Vdc，25℃）

2. 耐电压特性检测：

• 额定电压测试：施加1.5~2.5倍额定电压（IEC 60384-8 Clause 4.13）
• 耐浪涌电压：10次1ms脉冲（2.5倍额定电压）无击穿（JIS C 5101-7）

3. 频率特性检测：

• 等效串联电阻（ESR）：100kHz下ESR≤50mΩ（EIA-463）
• 阻抗-频率特性曲线：自谐振频率点定位（1MHz~1GHz扫描）

4. 温度特性检测：

• 温度系数（TCC）：-55℃~+125℃容量变化率（如X7R：ΔC/C≤±15%）
• 高温负荷寿命：125℃下施加额定电压1000小时（ΔC/C≤±10%，IR衰减≤50%）

5. 直流偏压特性检测：

• 偏压容量衰减：额定电压下ΔC/C≤-30%（Class 2材料典型值）

6. 机械完整性检测：

• 端电极结合强度：≥5N（焊球拉力法，JESD22-B116）
• 弯曲强度测试：板弯曲半径R=3mm，5次循环无开裂（JESD22-B113）

7. 可焊性检测：

• 润湿平衡测试：润湿力≥理论值80%（245℃锡浴，J-STD-002B）

8. 环境适应性检测：

• 温度循环测试：-55℃~+125℃循环1000次（ΔC/C≤±10%，IPC-9701）
• 耐湿负荷寿命：85℃/85%RH + 额定电压1000小时（ΔC/C≤±15%）

9. 微观结构检测：

• X-ray内部结构分析：介质层空洞、裂纹检测（分辨率≤1μm）
• 切片显微观测：层间结合度、电极渗透深度测量

10. 失效分析检测：

• 短路失效定位：红外热成像定位微短路点（精度±5μm）
• 介电击穿分析：SEM/EDS分析击穿点元素成分

检测范围

1. I类陶瓷电容器（NPO/COG）： 高稳定性器件，重点检测TCC（0±30ppm/℃）、老化特性及低DF值（≤0.001）

2. II类陶瓷电容器（X7R/X5R）： 中等容量器件，核心验证温度特性（-55~125℃ ΔC≤±15%）、直流偏压特性及抗开裂能力

3. III类陶瓷电容器（Y5V）： 高容量密度器件，侧重容差范围（+22%/-82%）、高温高湿性能衰减及IR稳定性

4. 片式钽电解电容器： 低ESR器件，强制检测浪涌电压耐受性、反向电压泄漏电流（≤标称电流3倍）及85℃负荷寿命

5. 片式铝电解电容器： 高容量器件，重点考察阻抗温度特性（-40~+105℃）、耐久性（2000小时@105℃）及低温ESR劣化

6. 片式超级电容器： 储能器件，核心测试等效串联电阻（ESR≤100mΩ）、漏电流（≤5μA/F）及循环寿命（10万次）

7. 高频用射频电容器： 微波电路器件，专注Q值（≥1000@1GHz）、自谐振频率（SRF≥5GHz）及插入损耗（≤0.1dB）

8. 高压片式电容器（>250V）： 电源器件，重点验证介质耐压强度（2.5倍额定电压）、爬电距离及高温绝缘电阻稳定性

9. 汽车级片式电容器（AEC-Q200）： 车规器件，强制进行板弯曲测试（R=3mm）、机械冲击（1500G）及温度循环（-55~125℃）

10. 特种介质电容器（PET/PP膜）： 有机薄膜器件，侧重高温耐受性（105℃）、耐湿性（85%RH）及耐焊接热特性（260℃ 10s）

检测方法

国际标准：

• IEC 60384-8:2018 电子设备用固定电容器 - 分规范：1类陶瓷介质固定电容器
• IEC 60384-9:2021 电子设备用固定电容器 - 分规范：2类陶瓷介质固定电容器
• IEC 60384-24:2020 电子设备用固定电容器 - 分规范：表面安装导电聚合物固体电解质钽固定电容器
• EIA RS-198-F:2010 陶瓷介质电容器的电容温度特性编码标准
• MIL-PRF-55365H:2020 表面安装多层陶瓷芯片电容器通用规范（美军标电容公差等级差异）

国家标准：

• GB/T 7332-2021 电子设备用固定电容器 第8部分：分规范 1类陶瓷介质固定电容器（等同IEC 60384-8）
• GB/T 7333-2021 电子设备用固定电容器 第9部分：分规范 2类陶瓷介质固定电容器（等同IEC 60384-9）
• GB/T 6346.301-2022 电子设备用固定电容器 第3-1部分：空白详细规范 表面安装多层陶瓷片式电容器（补充端电极尺寸公差要求）
• SJ/T JianCe27-2022 片式多层陶瓷电容器通用规范（增加直流偏压测试电流限制条件）

检测设备

1. 精密LCR测试仪： KEYSIGHT E4980AL型（频率范围20Hz~2MHz，基本精度0.05%，偏置电压±40V）

2. 高阻计/绝缘电阻测试仪： KEITHLEY 6517B型（测量范围10e6~10e17Ω，测试电压10~1000V）

3. 自动耐压测试系统： CHROMA 19032-P型（输出电压AC 5kV/DC 6kV，漏电流范围0.1μA~20mA）

4. 温度特性测试平台： ESPEC T-12-80型温控箱（-70~+180℃）配合LCR在线测量（控温精度±0.5℃）

5. 高频阻抗分析仪： KEYSIGHT E4991B型（频率范围1MHz~3GHz，ESR分辨率0.01mΩ）

6. 直流偏压源表： KEITHLEY 2461型（源/测量电压±1050V，电流±7A，脉冲扫描功能）

7. 精密微欧姆计： KEITHLEY 6221型（电流源+2182A纳伏表，四线法分辨率10μΩ）

8. X射线实时成像系统： NIKON XT H 450型（焦点尺寸<1μm，分辨率≤0.5μm，3D-CT功能）

9. 焊球推力测试仪： DAGE 4000HS型（测力范围0.01~50kgf，精度±0.25%，可编程焊球直径）

10. 三点弯曲试验机： SHIMADZU EZ-LX型（载荷范围±500N，位移分辨率0.1μm，弯曲夹具R半径可调）

11. 可焊性测试仪： METRONEE AT-360型（润湿力分辨率0.01mN，锡槽温度控制±1℃）

12. 高加速应力试验箱： ESPEC TDB-4-60型（温变率>60℃/min，温循范围-65~+175℃，湿度控制10~98%RH）

13. 扫描电子显微镜： HITACHI SU5000型（分辨率1.0nm@15kV，配备EDS能谱仪）

14. 红外热像分析系统： FLIR X8580SC型（热分辨率640×512，NETD<18mK，光谱范围3~5μm）

15. 自动外观检测系统： COGNEX DSMax-2型（线扫描分辨率10μm，缺陷识别算法支持微裂纹/缺角

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"片式电容器测试"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。