检测项目

1.元素含量测定：包括Fe（0.01%-20%）、Cu（0.005%-15%）、Zn（0.002%-10%）等金属元素的定量分析。

2.荧光强度测试：激发波长范围200-800nm，发射波长精度0.5nm。

3.半定量分析：相对标准偏差（RSD）≤3%，检出限达0.1ppm。

4.痕量元素检测：针对As（≥0.05ppm）、Cd（≥0.02ppm）、Pb（≥0.03ppm）等有害物质。

5.材料表面成分分析：扫描面积11mm至1010mm，空间分辨率≤5μm。

检测范围

1.金属合金：不锈钢（304/316L）、铝合金（6061/7075）、钛合金（Ti-6Al-4V）等。

2.陶瓷材料：氧化铝（Al₂O₃≥99%）、碳化硅（SiC≥98%）、氮化硼（BN≥95%）等。

3.高分子材料：聚乙烯（PE密度0.92-0.96g/cm）、聚丙烯（PP熔融指数10-50g/10min）。

4.环境样品：土壤重金属（Hg≤0.15mg/kg）、废水COD（≤100mg/L）。

5.生物样本：血液铅含量（儿童≤50μg/L）、植物组织微量元素（Fe/Mn/Cu/Zn）。

检测方法

1.ASTME1621-22：波长色散X射线荧光光谱法测定金属涂层厚度。

2.ISO17054:2019：能量色散X射线荧光法快速筛选RoHS受限物质。

3.GB/T223.5-2008：钢铁及合金化学分析方法-X射线荧光光谱法测定多元素含量。

4.GB/T30903-2014：无机化工产品中杂质元素的X射线荧光光谱定性分析。

5.ISO3497:2020：金属镀层厚度测量-多镀层体系的X射线荧光法。

检测设备

1.ThermoScientificARLPERFORM'XXRF光谱仪：配备4kW铑靶X光管，支持Li-U元素全谱分析。

2.ShimadzuEDX-7000能量色散型荧光仪：硅漂移探测器分辨率≤125eV，适用于RoHS合规检测。

3.RigakuZSXPrimusIV波长色散光谱仪：最大功率3kW，可测Beryllium窗口至Uranium元素。

4.BrukerS8TIGER系列WD-XRF：集成GeoQuant无标样定量软件，矿物分析误差＜0.5%.

5.OlympusVantaM系列手持式XRF：IP54防护等级，支持镁合金中Al/Mn/Zn现场快速筛查。

6.PANalyticalEpsilon3XL台式ED-XRF：50kV银靶管配置，检出限低至1ppm（Cd/Pb）。

7.HitachiEA1400X射线荧光镀层测厚仪：测量精度1%，支持0.01-50μm镀层厚度测定。

8.SkyrayInstrumentEDX3600B能量色散光谱仪：配备自动样品交换器，通量达300样/日。