检测项目
表面粗糙度Ra：测量算术平均偏差值（0.025-6.3μm）
最大高度Rz：评估轮廓峰谷垂直间距（0.1-25μm）
均方根粗糙度Rq：表征表面波动离散程度（0.01-10μm）
波纹度Wt：分析周期性表面起伏（0.1-1000μm）
轮廓支承率Mr：计算特定深度下的材料接触比例（0-100%）
检测范围
金属加工件：车削/铣削/磨削表面
工程塑料：注塑成型件与挤出制品
陶瓷基材：烧结表面与抛光面
复合材料：碳纤维层压板界面
光学元件：镜面基底预处理面
检测方法
触针式测量法：ASTMD7127、ISO4287、GB/T3505
光学干涉法：ISO25178-2、GB/T39489
激光散射法：ASTME2387、GB/T39490
共聚焦显微术：ISO25178-6、GB/T39643
原子力显微术：ASTME2859、GB/T30455
检测设备
MitutoyoSJ-410：触针式粗糙度仪（Ra0.01-50μm）
TaylorHobsonSurtronicS-100：便携式粗糙度测量系统
BrukerContourGT-X3：白光干涉三维形貌仪
KeyenceVK-X3000：激光共聚焦显微镜（0.001μm分辨率）
OlympusLEXTOLS5000：3D激光测量显微镜（120nm精度）
ZygoNewView9000：相移干涉表面轮廓仪
JenoptikWaveline：多波长光学轮廓系统
PanasonicHG-C1100：激光位移传感器在线监测装置
NanoFocusμsurfMobile：动态粗糙度分析仪
ZeissSurfcomFlex-A：全自动接触式测量工作站