检测项目

1.中心波长偏移量（0.5nm精度）

2.半高宽（FWHM）变化率（测量范围200-2500nm）

3.透射率/反射率衰减（精度0.2%）

4.吸收系数梯度（10^-3~10^6cm^-1量程）

5.偏振相关损耗（PDL≤0.1dB）

检测范围

1.光学镀膜器件（AR/IR/滤光片）

2.光纤布拉格光栅（FBG）

3.III-V族半导体激光芯片

4.Nd:YAG激光晶体元件

5.量子点荧光材料

检测方法

ASTME275-08(2017)紫外可见分光光度法

ISO13697:2006激光损伤阈值测试规范

GB/T26332-2010光学薄膜光谱特性测试方法

IEC60793-1-42:2013光纤几何参数测量

GB/T31370.2-2015半导体激光器测试规程

检测设备

OceanOpticsHR4000光谱仪（分辨率0.035nm）

AgilentCary7000全能型分光光度计（175-3300nm）

BenthamPVE300光电量子效率测试系统

NewportOrielCS260单色仪（200-20μm）

ThorlabsPAX1000偏振分析仪（600-1700nm）

PerkinElmerLambda1050+双光束分光光度计

YokogawaAQ6370D长波段光谱分析仪（1200-2400nm）

HamamatsuC12132多通道光谱探测器（200-1100nm）

BrukerVertex80v真空傅里叶红外光谱仪（10-28,000cm^-1）

KeysightN7788B光波分量分析系统（1520-1630nm）