检测项目
1.光谱响应范围：测量200-2500nm波段内透射率变化值（精度0.5%）
2.温度稳定性：-70℃至300℃循环测试（单次循环时长120min）
3.辐射衰减系数：模拟太阳辐射强度（1000W/m）下光衰速率测定
4.表面形貌变化：原子力显微镜观测表面粗糙度Ra值（分辨率0.1nm）
5.化学键稳定性：傅里叶红外光谱分析特征峰位移（波数范围4000-400cm⁻）
检测范围
1.半导体晶圆材料（硅基/砷化镓/氮化镓）
2.航天器热控涂层（氧化锆/二氧化硅复合镀层）
3.高能激光光学元件（熔融石英/蓝宝石窗口片）
4.核反应堆观测视窗材料（硼硅玻璃/铝酸钙玻璃）
5.深空探测器防护薄膜（聚酰亚胺/氟化镁多层膜）
检测方法
ASTME903-20《材料太阳吸收率标准测试方法》
ISO9050:2003《建筑玻璃光热性能测定规范》
GB/T14564-2021《光学功能薄膜耐候性试验方法》
GB11164-2014《真空镀膜光学性能测试通则》
ISO21348:2007《空间环境太阳光谱辐照度定义》
检测设备
1.PerkinElmerLambda1050+双光束分光光度计（波长精度0.08nm）
2.ThermoScientificNicoletiS50FTIR光谱仪（DTGS检测器）
3.EspecTAS-112S三综合试验箱（温变速率15℃/min）
4.BrukerDimensionIcon原子力显微镜（ScanAsyst模式）
5.SciencetechSF300太阳模拟器（AM1.5G光谱匹配度A级）
6.Agilent5500LS扫描探针显微镜（电流灵敏度1pA）
7.NetzschSTA449F3同步热分析仪（TG-DSC联用）
8.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜（405nm激光源）
9.LabsphereLMS-7600辐射计（辐照度测量范围0-2000W/m）
10.KeysightB2902A精密源表（电压分辨率1μV）