同时性扫描检测

检测项目1.表面形貌扫描:分辨率0.5nm@15kV,扫描速度0.1-30frame/s2.元素分布分析:能量分辨率≤127eV(Mn-Kα),探测限0.1wt%3.晶体取向测定:角分辨率0.1,步长10nm4.热导率映射:温度灵敏度0.05K,空间分辨率1μm5.残余应力检测:应变精度0.005%,测量范围5000με检测范围1.金属材料:铝合金晶界腐蚀评估/钛合金相变分析2.半导体器件:芯片焊点空洞率/晶圆掺杂均匀性3.高分子材料:共混物相分离程度/纤维取向度4.生物样品:骨组织矿化密度/细胞膜弹性模

原创阅读 132025-05-16工程师CMACNASISO高新技术企业

检测项目

1.表面形貌扫描:分辨率0.5nm@15kV,扫描速度0.1-30frame/s

2.元素分布分析:能量分辨率≤127eV(Mn-Kα),探测限0.1wt%

3.晶体取向测定:角分辨率0.1,步长10nm

4.热导率映射:温度灵敏度0.05K,空间分辨率1μm

5.残余应力检测:应变精度0.005%,测量范围5000με

检测范围

1.金属材料:铝合金晶界腐蚀评估/钛合金相变分析

2.半导体器件:芯片焊点空洞率/晶圆掺杂均匀性

3.高分子材料:共混物相分离程度/纤维取向度

4.生物样品:骨组织矿化密度/细胞膜弹性模量

5.陶瓷复合材料:界面结合强度/孔隙率分布

检测方法

ASTME1508-20电子背散射衍射标准测试方法

ISO22309:2022微束分析-能谱法定量分析

GB/T17359-2023电子探针显微分析通用技术条件

GB/T35086-2018扫描电镜能谱联用分析方法

ISO22262-3:2020材料表面纳米压痕测试规范

检测设备

1.蔡司Sigma500场发射扫描电镜:配备5轴电动样品台,最大放大倍数1,000,000

2.BrukerQuantaxEDS系统:配置80mm硅漂移探测器,元素分析范围B-U

3.OxfordSymmetryEBSD探测器:采集速度4000点/秒,Hough分辨率512512

4.ParkNX20原子力显微镜:非接触模式分辨率0.1nm,最大扫描范围100μm100μm

5.HitachiEA1000离子研磨仪:加速电压1-8kV可调,断面加工精度50nm

6.KeysightNanoIndenterG200:载荷分辨率50nN,位移分辨率0.01nm

7.ThermoFisherNicoletiN10显微红外光谱仪:空间分辨率3μm,光谱范围7800-350cm⁻

8.MalvernPanalyticalEmpyreanX射线衍射仪:角度重复性0.0001,最小光斑50μm

9.ZeissLSM900激光共聚焦显微镜:轴向分辨率120nm,Z轴定位精度10nm

10.Agilent5500SPM系统:支持Tapping/Contact模式切换,温度控制范围-196C~250C

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

QUALIFICATIONS

旗下实验室 · 资质荣誉

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