高硅铁矿检测

检测项目1.二氧化硅含量测定:采用X射线荧光光谱法(XRF),检测范围50%-80%,精度0.5%2.全铁(TFe)含量分析:重铬酸钾滴定法(GB/T6730.5-2016),测量区间10%-40%3.三氧化二铝杂质检测:电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES),检出限0.01%4.硫磷有害元素控制:紫外分光光度法(ISO4689-1:2020),硫≤0.05%,磷≤0.03%5.矿物相组成鉴定:X射线衍射分析(XRD),石英相占比≥65%检测范围1.高硅铁矿石原矿(SiO₂>45%)2.烧结用高硅铁

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检测项目

1.二氧化硅含量测定:采用X射线荧光光谱法(XRF),检测范围50%-80%,精度0.5%

2.全铁(TFe)含量分析:重铬酸钾滴定法(GB/T6730.5-2016),测量区间10%-40%

3.三氧化二铝杂质检测:电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES),检出限0.01%

4.硫磷有害元素控制:紫外分光光度法(ISO4689-1:2020),硫≤0.05%,磷≤0.03%

5.矿物相组成鉴定:X射线衍射分析(XRD),石英相占比≥65%

检测范围

1.高硅铁矿石原矿(SiO₂>45%)

2.烧结用高硅铁矿粉料(粒度-200目≥90%)

3.球团矿产品(抗压强度≥2000N/个)

4.冶金级精矿粉(TFe≥58%,SiO₂≤8%)

5.耐火材料用尾矿渣(Al₂O₃+SiO₂≥85%)

检测方法

GB/T6730.62-2021铁矿石化学分析方法总则

ASTME1915-2011X射线荧光光谱定量分析标准

ISO11535:2023电感耦合等离子体原子发射光谱法通则

GB/T24583.2-2019钒钛磁铁矿多元素测定规程

JISM8212:2020铁矿石灼烧减量试验方法

检测设备

ThermoFisherARLPERFORM'XX射线荧光光谱仪:全元素快速定量分析(Na-U)

PerkinElmerOptima8300ICP-OES:痕量元素同步测定(检出限ppb级)

BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪:物相定性定量分析(精度0.5)

MettlerToledoTGA/DSC3+热重分析仪:灼烧减量测定(温度范围1600℃)

MalvernMastersizer3000激光粒度仪:粒度分布测试(0.01-3500μm)

Instron5985万能试验机:球团抗压强度测试(载荷300kN)

SartoriusCPA225D电子天平:精密称量(精度0.0001g)

HORIBALabRAMHREvolution拉曼光谱仪:矿物表面结构表征(532nm激光)

LECOCS844碳硫分析仪:碳硫联测系统(C:0.001%-6%,S:0.0005%-0.35%)

OlympusDELTAProfessional手持式XRF:现场快速筛查(Ti-U元素检测)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

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