位势函数检测概述:检测项目1.表面电位分布:测量范围10kV,分辨率≤0.1V2.电场强度梯度:精度2%,量程0-100kV/m3.介电常数测定:频率范围1kHz-1MHz4.电荷衰减速率:时间常数τ测量误差≤5%5.功函数差异:灵敏度10meV检测范围1.半导体晶圆及封装材料2.高分子绝缘薄膜(PET/PI/PTFE)3.防静电复合材料(碳纤维/金属镀层)4.压电陶瓷及铁电材料5.光电功能涂层(ITO/FTO)检测方法ASTMF1502-2018静电耗散材料表面电阻测试ISO3915:2021塑料材料体积电阻率测定GB/
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1.表面电位分布:测量范围10kV,分辨率≤0.1V
2.电场强度梯度:精度2%,量程0-100kV/m
3.介电常数测定:频率范围1kHz-1MHz
4.电荷衰减速率:时间常数τ测量误差≤5%
5.功函数差异:灵敏度10meV
1.半导体晶圆及封装材料
2.高分子绝缘薄膜(PET/PI/PTFE)
3.防静电复合材料(碳纤维/金属镀层)
4.压电陶瓷及铁电材料
5.光电功能涂层(ITO/FTO)
ASTMF1502-2018静电耗散材料表面电阻测试
ISO3915:2021塑料材料体积电阻率测定
GB/T12703.1-2021纺织品静电性能评价
IEC62631-3-1:2016介质材料介电特性测量
JISK6911:2020橡胶制品表面电位测试
1.KelvinProbeFM3(德国KPTechnology):非接触式表面功函数测量
2.TrekModel347静电计(美国TREK):20kV高精度电位测试
3.KeysightE4990A阻抗分析仪(美国Keysight):宽频介电特性分析
4.SimcoFMX-003静电场测试仪(日本Simco):三维电场分布测绘
5.EST121表面电位计(中国EST):动态电荷衰减监测
6.Keithley6517B高阻计(美国Tektronix):10^17Ω超高阻值测量
7.HIOKIIM3590化学阻抗分析仪(日本HIOKI):多频段介损角测试
8.MonroeElectronicsModel284E(美国Monroe):瞬态电荷捕捉分析
9.ProstatPRS-801电阻测试系统(美国Prostat):多点位同步采集
10.AgilentB1505A功率器件分析仪(美国Agilent):纳米级电位分布成像
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与位势函数检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。