检测项目
1.碲元素含量测定：采用ICP-MS法测定Te含量（0.001%-30%），精度0.5%
2.伴生元素分析：Au（0.1-50g/t）、Ag（10-500g/t）、Cu（0.01%-5%）定量检测
3.晶体结构表征：XRD分析晶格常数（a=4.250.02,c=5.890.03）
4.物理性能测试：密度（7.2-7.9g/cm）、莫氏硬度（2.5-3.0）
5.杂质元素筛查：As≤0.1%、Pb≤0.05%、Cd≤0.01%限量控制
检测范围
1.原生叶碲矿石及选矿产品
2.碲化金精炼中间产物
3.半导体工业用高纯碲原料
4.地质勘探岩芯样品
5.工业废料中碲资源回收物料
检测方法
1.X射线荧光光谱法（ASTME1621/GB/T17413.3）
2.电感耦合等离子体质谱法（ISO17294-2/GB/T3884.21）
3.X射线衍射分析法（JCPDS04-003-3241/GB/T23413）
4.原子吸收光谱法（GB/T3884.12）
5.电子探针微区分析（ISO22309/GB/T15074）
检测设备
1.ThermoScientificNitonXL5XRF分析仪：现场快速元素筛查
2.Agilent7900ICP-MS：痕量元素超低检出限（ppt级）
3.BrukerD8ADVANCEXRD：全自动晶体结构解析
4.ShimadzuEPMA-1720H电子探针：微区成分面分布分析
5.MettlerToledoXSE204密度计：固体材料精密密度测量
6.Zwick/RoellZHU250硬度计：维氏硬度自动测试
7.PerkinElmerPinAAcle900TAAS：特定元素定量分析
8.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：矿物颗粒分布测定
9.NetzschSTA449F3同步热分析仪：热稳定性测试
10.CarlZeissEVOMA15扫描电镜：微观形貌观测