检测项目

1.轨道波函数空间分布密度：测量精度0.05/unitcell
2.能量本征值测定：分辨率≤0.005eV@300K
3.相位对称性分析：包括C4v/D4h等32种点群对称性识别
4.自旋极化率测试：灵敏度达110^-3μB/atom
5.电荷密度分布梯度：梯度分辨率0.02e/

检测范围

1.III-V族半导体材料（GaAs,InSb等）
2.过渡金属氧化物（SrTiO3,NiO等）
3.高温超导材料（YBCO,FeSe/STO等）
4.二维范德华材料（石墨烯,MoS2异质结）
5.拓扑绝缘体（Bi2Se3,Bi2Te3单晶）

检测方法

ASTME2108-2016(扫描隧道谱定量分析规程)
ISO18516:2019(表面分析-原子力显微镜法)
GB/T23989-2009(电子能谱化学分析通则)
GB/T35033-2018(量子材料电子结构测试规范)
ISO18115-4:2023(表面化学分析-词汇第4部分：扫描探针显微术)

检测设备

1.OmicronLTSTM：工作温度4.2K-300K，能量分辨率0.3meV
2.ScientaOmicronDA30LARPES：角度分辨率0.1，能量分辨率2meV
3.JEOLJEM-ARM300F：球差校正电镜，空间分辨率0.05nm
4.QuantumDesignPPMSDynaCool：综合物性测量系统（1.8-400K）
5.ThermoScientificESCALABXi+：X射线光电子能谱仪（单色AlKα源）
6.RHKTechnologyUHVVT-STM：变温扫描隧道显微镜（80-500K）
7.BrukerDimensionIconAFM：峰值力轻敲模式（力分辨率10pN）
8.SPECSPHOIBOS150CCD：二维能量动量探测器（角度接收30）
9.OxfordInstrumentsTritonXL：稀释制冷STM系统（基温15mK）
10.KeysightN9422C微波矢量网络分析仪：频率范围10MHz-26.5GHz