散焦测距检测

检测项目1.轴向分辨率:≤0.5μm(基于ISO25178表面粗糙度标准)2.重复性误差:0.3%F.S.(满量程)3.动态响应频率:10kHz~1MHz(依据GB/T16825.1-2018)4.温度漂移系数:≤0.005%/℃(-20℃~60℃环境测试)5.线性度偏差:≤0.1%(ASTME2919-22校准规范)检测范围1.光学玻璃及晶体材料(熔融石英、氟化钙等)2.金属精密加工件(航空铝合金、钛合金等)3.MEMS微机电系统(加速度计、陀螺仪等)4.半导体晶圆(硅片、GaAs衬底等)5.高分子薄膜

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检测项目

1.轴向分辨率:≤0.5μm(基于ISO25178表面粗糙度标准)
2.重复性误差:0.3%F.S.(满量程)
3.动态响应频率:10kHz~1MHz(依据GB/T16825.1-2018)
4.温度漂移系数:≤0.005%/℃(-20℃~60℃环境测试)
5.线性度偏差:≤0.1%(ASTME2919-22校准规范)

检测范围

1.光学玻璃及晶体材料(熔融石英、氟化钙等)
2.金属精密加工件(航空铝合金、钛合金等)
3.MEMS微机电系统(加速度计、陀螺仪等)
4.半导体晶圆(硅片、GaAs衬底等)
5.高分子薄膜材料(PET、PI柔性基板等)

检测方法

1.ISO12179:2021《几何产品规范(GPS)表面结构:轮廓法标称特性的校准》
2.ASTME2544-11a《使用光学显微镜测量台阶高度的标准试验方法》
3.GB/T6062-2018《产品几何技术规范(GPS)表面结构轮廓法接触(触针)式仪器的标称特性》
4.ISO25178-602:2019《非接触式共聚焦显微镜的校准》
5.GB/T34879-2017《微机电系统(MEMS)技术微结构几何量测量方法》

检测设备

1.KeyenceLK-G5000激光位移传感器:分辨率0.01μm,采样频率392kHz
2.ZygoNewView9000白光干涉仪:垂直分辨率0.1nm,扫描速度15μm/s
3.OlympusOLS5000激光共聚焦显微镜:XYZ轴重复精度10nm
4.MitutoyoSJ-410表面粗糙度仪:符合JISB0651-2001标准
5.PolytecPSV-500扫描式激光测振仪:频率范围DC~25MHz
6.BrukerContourGT-X3光学轮廓仪:0.01垂直分辨率
7.ZeissAxioCSM700共聚焦显微镜:支持ISO25178全参数分析
8.RenishawXL-80激光干涉仪:线性测量精度0.5ppm
9.NikonNEXIVVMZ-S6520影像测量系统:配备20倍远心镜头
10.Agilent5530动态校准系统:符合ISO16063-11振动标准

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

QUALIFICATIONS

旗下实验室 · 资质荣誉

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{{ groups[lb.g].items[lb.i].t }}({{ lb.i+1 }} / {{ groups[lb.g].items.length }})

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