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逆合成孔径雷达测试

  • 原创官网
  • 2025-02-26 17:22:37
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逆合成孔径雷达测试概述:逆合成孔径雷达测试是评估雷达系统成像精度与抗干扰能力的关键环节,涵盖分辨率、动态范围、相位稳定性等核心参数检测。本文依据ASTM、ISO及GB/T标准体系,系统阐述测试项目、材料适用性、标准化方法及设备选型,为航空航天、军事装备等领域提供专业技术支撑。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

分辨率测试:方位向分辨率≤0.3m@X波段,距离向分辨率≤0.5m@50MHz带宽

动态范围测试:≥70dB(含系统噪声抑制能力)

相位稳定性测试:短期相位噪声≤0.5°/√Hz@1kHz偏移

距离向精度测试:绝对误差≤0.1m@100km量程

速度测量精度测试:多普勒分辨率≤0.1m/s@1s积分时间

检测范围

金属基复合材料:包括铝合金蜂窝板、钛合金层压结构等

雷达吸波材料:电阻渐变型吸波涂层(厚度0.5-5mm)

天线罩材料:石英纤维增强氰酸酯复合材料(介电常数2.7-3.2)

电子对抗设备:DRFM数字射频存储器模块

运动平台结构件:无人机旋翼叶片(转速300-3000rpm)

检测方法

ISO 20671:2017 非合作目标成像质量评价方法

ASTM E2597-19 动态范围校准标准流程

GB/T 30146-2013 雷达系统电磁兼容性测试规范

GJB 7869-2012 军用雷达分辨率测试方法

IEC 62311:2019 射频辐射特性测量规程

检测设备

Keysight N9042B信号分析仪:支持70GHz频段,160MHz分析带宽

Rohde&Schwarz SMW200A矢量信号源:频率范围100kHz至44GHz

Anritsu MT8000A微波暗室测试系统:30m×20m×15m,吸波材料反射率≤-50dB

National Instruments PXIe-5646R高速采集卡:采样率3GS/s,16位分辨率

Agilent 85071E材料测试套件:介电常数测量精度±0.05@10GHz

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与逆合成孔径雷达测试相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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