检测项目

1.周期抖动（PeriodJitter）：测量单个时钟周期与理想值的偏差范围（单位：ps）

2.周期间抖动（Cycle-to-CycleJitter）：分析连续周期时间差的最大值（单位：fs）

3.长期抖动（Long-TermJitter）：评估10^6个周期内累积时间误差（单位：ns）

4.相位噪声（PhaseNoise）：测试频域偏移1Hz至100MHz范围内的噪声功率谱密度（单位：dBc/Hz）

5.峰峰值抖动（Peak-to-PeakJitter）：统计10^12个周期内最大时间偏移量（单位：ps）

检测范围

1.半导体器件：CPU/GPU时钟发生器、FPGA芯片内部PLL模块

2.光纤通信模块：100G/400G光模块CDR电路时基误差

3.晶振产品：TCXO/OCXO振荡器的短期频率稳定性

4.高速数据转换器：ADC/DAC采样时钟的孔径抖动

5.航空航天电子设备：星载原子钟的时间同步系统

检测方法

ASTMF328-19：半导体器件时间参数测量标准方法

IEC62132-8：集成电路电磁兼容性-时钟抖动测试规范

GB/T15514-2018：数字通信设备时钟特性测试方法

ISO18945:2018：数字影像存储系统时间基准稳定性测试

SJ/T11498-2015：晶体振荡器短期频率稳定度测试规程

检测设备

1.Keysight86100D：高精度宽带示波器（带宽＞50GHz，时间分辨率＜150fs）

2.R&SFSWP：相位噪声分析仪（频率范围10MHz至50GHz）

3.TektronixDPO70000SX：实时采样示波器（采样率200GS/s）

4.AnritsuMP1900A：误码率测试仪（支持32Gbps信号完整性分析）

5.Symmetricom5120A：精密时基分析仪（日稳定度1E-12）

6.Microchip53100A：相位噪声测试系统（灵敏度-190dBc/Hz）

7.StanfordResearchSR620：时间间隔计数器（分辨率500ps）

8.AgilentE5052B：信号源分析仪（支持双通道互相关测量）

9.Picosecond3200C：光波形分析仪（支持28Gbps光信号眼图测试）

10.ChronosCT-1：原子钟参考源（氢脉泽频率基准）