检测项目
1.谱线半高宽（FWHM）：测量波长范围380-780nm，精度0.002nm
2.温度相关性系数：测试范围50-5000K，分辨率5K
3.压力展宽参数：量程10^-3-10^5Pa，误差≤0.5%FS
4.粒子速度分布函数：采样频率1MHz-1GHz
5.碰撞截面测定：精度等级0.02@298K
检测范围
1.半导体材料载流子迁移率分析
2.高温等离子体电子密度诊断
3.稀有气体放电管特性表征
4.激光增益介质均匀性评估
5.恒星大气层元素丰度测定
检测方法
ASTME3072-17《高温等离子体光谱诊断标准》
ISO18473-3:2020《纳米材料光学特性测试规范》
GB/T32281-2015《激光器谱线宽度测量方法》
GB13798-2019《原子发射光谱分析通则》
IEC61207-6:2018《气体分析仪性能表示第6部分》
检测设备
1.HR2000+高分辨率光谱仪：分辨率0.035nm@500nm
2.F-P干涉仪SA200-5B：自由光谱范围1.5GHz
3.AndorSR-750光谱采集系统：量子效率＞90%@600nm
4.KeysightN7776C可调谐激光源：波长精度0.2pm
5.ThorlabsCCS200紧凑型光谱仪：积分时间1ms-65s
6.OceanInsightQEPro-FL荧光光谱仪：信噪比1000:1
7.BrukerVERTEX80v真空型FTIR：波数精度0.07cm^-1
8.HamamatsuC10910光电倍增管：响应时间2ns@400nm
9.Newport2936-R波长计：测量范围350-1100nm
10.Agilent86100D示波器：带宽70GHz@50GSa/s