检测项目

1.中心波长偏差：测量实际波长与标称值的偏移量（0.02nm精度）
2.半高宽（FWHM）：测定光谱强度最大值50%处的全宽（0.01nm分辨率）
3.边模抑制比（SMSR）：主模与最强边模的功率比值（≥40dB动态范围）
4.带内波动：通带内最大与最小透射率差值（0.1dB重复性）
5.3dB带宽：衰减3dB时的光谱宽度（0.05nm测量不确定度）

检测范围

1.光纤布拉格光栅（FBG）：通信波段1528-1565nm器件
2.半导体激光器芯片：780-1650nm波长范围
3.窄带滤光片：带宽0.1-10nm的干涉型光学元件
4.光通信模块：DWDM系统用发射/接收组件
5.荧光材料：量子点、稀土掺杂玻璃的发射光谱

检测方法

1.ASTME275-08：紫外可见分光光度计性能验证标准
2.ISO24013:2006：光学元件偏振相关损耗测试规范
3.GB/T13384-2008：光谱分析仪通用技术条件
4.IEC62129-1:2016：光波长计校准规程
5.GB/T26598-2011：光纤光栅特性测试方法

检测设备

1.YokogawaAQ6370D光谱分析仪：1200-1650nm波段，0.02nm分辨率
2.KeysightN7714A可调谐激光源：1520-1630nm连续调谐输出
3.Bristol621A波长计：绝对精度0.2ppm，50MHz测量速度
4.Agilent86142BOSA：600-1700nm宽谱分析，70dB动态范围
5.EXFOFTB-5240BP光偏振分析仪：PMD/CD联合测试功能
6.ThorlabsOSA205C紧凑型光谱仪：350-1100nm可见光波段检测
7.AdvantestQ8384光学谱分析仪：1525-1610nm,0.01nm步进扫描
8.Newport2936-R波长计：双通道同步测量模式
9.AnritsuMS9740BOSA：0.05nm分辨率带宽可调
10.IbsenPhotonicsI-MON系列高速光谱仪：10kHz采样率实时监测