


概述:检测项目1.中心波长偏差:测量实际波长与标称值的偏移量(0.02nm精度)2.半高宽(FWHM):测定光谱强度最大值50%处的全宽(0.01nm分辨率)3.边模抑制比(SMSR):主模与最强边模的功率比值(≥40dB动态范围)4.带内波动:通带内最大与最小透射率差值(0.1dB重复性)5.3dB带宽:衰减3dB时的光谱宽度(0.05nm测量不确定度)检测范围1.光纤布拉格光栅(FBG):通信波段1528-1565nm器件2.半导体激光器芯片:780-1650nm波长范围3.窄带滤光片:带宽0.1-10nm
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人委托除外)。
因篇幅原因,CMA/CNAS/ISO证书以及未列出的项目/样品,请咨询在线工程师。
1.中心波长偏差:测量实际波长与标称值的偏移量(0.02nm精度)
2.半高宽(FWHM):测定光谱强度最大值50%处的全宽(0.01nm分辨率)
3.边模抑制比(SMSR):主模与最强边模的功率比值(≥40dB动态范围)
4.带内波动:通带内最大与最小透射率差值(0.1dB重复性)
5.3dB带宽:衰减3dB时的光谱宽度(0.05nm测量不确定度)
1.光纤布拉格光栅(FBG):通信波段1528-1565nm器件
2.半导体激光器芯片:780-1650nm波长范围
3.窄带滤光片:带宽0.1-10nm的干涉型光学元件
4.光通信模块:DWDM系统用发射/接收组件
5.荧光材料:量子点、稀土掺杂玻璃的发射光谱
1.ASTME275-08:紫外可见分光光度计性能验证标准
2.ISO24013:2006:光学元件偏振相关损耗测试规范
3.GB/T13384-2008:光谱分析仪通用技术条件
4.IEC62129-1:2016:光波长计校准规程
5.GB/T26598-2011:光纤光栅特性测试方法
1.YokogawaAQ6370D光谱分析仪:1200-1650nm波段,0.02nm分辨率
2.KeysightN7714A可调谐激光源:1520-1630nm连续调谐输出
3.Bristol621A波长计:绝对精度0.2ppm,50MHz测量速度
4.Agilent86142BOSA:600-1700nm宽谱分析,70dB动态范围
5.EXFOFTB-5240BP光偏振分析仪:PMD/CD联合测试功能
6.ThorlabsOSA205C紧凑型光谱仪:350-1100nm可见光波段检测
7.AdvantestQ8384光学谱分析仪:1525-1610nm,0.01nm步进扫描
8.Newport2936-R波长计:双通道同步测量模式
9.AnritsuMS9740BOSA:0.05nm分辨率带宽可调
10.IbsenPhotonicsI-MON系列高速光谱仪:10kHz采样率实时监测
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"谱带宽度检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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