检测项目

1.粒径分布：D10/D50/D90值测定（5-50nm范围），多分散指数（PDI≤0.3）
2.纯度分析：Au含量≥99.95%，Ag/Cu/Fe等杂质元素≤50ppm
3.形貌表征：球形度≥95%，表面粗糙度Ra≤1.2nm
4.比表面积：BET法测定（15-50m/g），孔径分布0.5-3nm
5.Zeta电位：20mV至50mV（pH6-8条件下）

检测范围

1.生物医药载体：靶向药物包覆金纳米颗粒
2.电子浆料：厚膜电路用AuNP导电油墨
3.催化材料：燃料电池Pt-Au双金属催化剂
4.光学涂层：近红外吸收型Au@SiO2核壳结构
5.复合材料：高分子基体增强用表面改性金粉

检测方法

1.ASTME2490-2021：激光衍射法测定亚微米颗粒分布
2.ISO21392:2021：ICP-MS测定贵金属纳米材料杂质
3.GB/T19587-2017：静态容量法BET比表面测试
4.GB/T36065-2018：纳米材料形貌尺寸透射电镜分析法
5.ISO/TS21362:2018：场流分离联用ICP-MS表征金属纳米颗粒

检测设备

1.FEINovaNanoSEM450：场发射扫描电镜（分辨率0.8nm）
2.MalvernMastersizer3000：湿法激光粒度仪（0.01-3500μm）
3.MicromeriticsASAP2460：全自动比表面及孔隙度分析仪
4.ThermoiCAPTQe：三重四极杆ICP-MS（检出限0.1ppt）
5.BrukerD8ADVANCE：X射线衍射仪（2θ精度0.0001）
6.HoribaLB-550：动态光散射Zeta电位分析系统
7.JEOLJEM-ARM300F：原子分辨率透射电镜（点分辨率0.08nm）
8.PerkinElmerSTA8000：同步热分析仪（TGA/DSC同步测量）
9.Agilent7900ICP-OES：双向观测等离子体发射光谱仪
10.MalvernZetasizerNanoZS：纳米颗粒电位及分子量分析系统