荧光片系列检测

检测项目

激发波长范围：350-550nm（2nm精度）

发射光谱半峰宽：≤35nm（450nm主峰条件下）

量子效率测定：≥85%（参照标准物质比对）

表面耐刮擦性：3H铅笔硬度测试（500g载荷）

高温高湿稳定性：85℃/85%RH环境1000小时衰减率≤5%

紫外老化测试：0.76W/m@340nm辐照2000小时色坐标偏移ΔE≤0.03

检测范围

生物医学用荧光标记片（细胞成像载玻片）

工业无损检测用荧光渗透片（裂纹探伤基材）

显示器件背光模组用导光荧光膜

防伪印刷特种荧光油墨涂层

科研级光谱校正基准荧光板

检测方法

ASTME2143-18荧光材料绝对量子产率测试规范

ISO23978:2021光致发光材料加速老化试验方法

GB/T23446-2020荧光粉涂层厚度均匀性测定法

ISO4892-3:2016实验室光源暴露-荧光紫外灯法

GB/T9754-2007色漆和清漆镜面光泽的测定（60角）

ASTMD3363-20铅笔法测定漆膜硬度标准试验方法

检测设备

PerkinElmerLambda950分光光度计：200-2500nm全波段光谱分析

EdinburghInstrumentsFLS1000稳态瞬态荧光光谱仪：量子效率精确测量

Q-SUNXe-3-HS氙灯老化箱：模拟全光谱环境老化

BYKmicro-TRI-gloss多角度光泽度计：20/60/85三角度测量

MitutoyoLitematicVL-50S测厚仪：0.1μm分辨率厚度测量

OlympusBX53M荧光显微镜：400-700nm多波段激发观测

Taber5135耐磨试验机：CS-10磨轮1000g载荷循环测试

ESPECPL-3KPH恒温恒湿箱：温湿度复合环境模拟

KonicaMinoltaCS-2000分光辐射亮度计：0.001cd/m灵敏度测量

BrukerDektakXT轮廓仪：0.1nm垂直分辨率表面形貌分析

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"荧光片系列检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。