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荧光片系列检测

  • 原创官网
  • 2025-05-19 14:17:38
  • 关键字:荧光片系列测试标准,荧光片系列测试机构,荧光片系列测试方法
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荧光片系列检测概述:检测项目激发波长范围:350-550nm(2nm精度)发射光谱半峰宽:≤35nm(450nm主峰条件下)量子效率测定:≥85%(参照标准物质比对)表面耐刮擦性:3H铅笔硬度测试(500g载荷)高温高湿稳定性:85℃/85%RH环境1000小时衰减率≤5%紫外老化测试:0.76W/m@340nm辐照2000小时色坐标偏移ΔE≤0.


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CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

激发波长范围:350-550nm(2nm精度)

发射光谱半峰宽:≤35nm(450nm主峰条件下)

量子效率测定:≥85%(参照标准物质比对)

表面耐刮擦性:3H铅笔硬度测试(500g载荷)

高温高湿稳定性:85℃/85%RH环境1000小时衰减率≤5%

紫外老化测试:0.76W/m@340nm辐照2000小时色坐标偏移ΔE≤0.03

检测范围

生物医学用荧光标记片(细胞成像载玻片)

工业无损检测用荧光渗透片(裂纹探伤基材)

显示器件背光模组用导光荧光膜

防伪印刷特种荧光油墨涂层

科研级光谱校正基准荧光板

检测方法

ASTME2143-18荧光材料绝对量子产率测试规范

ISO23978:2021光致发光材料加速老化试验方法

GB/T23446-2020荧光粉涂层厚度均匀性测定法

ISO4892-3:2016实验室光源暴露-荧光紫外灯法

GB/T9754-2007色漆和清漆镜面光泽的测定(60角)

ASTMD3363-20铅笔法测定漆膜硬度标准试验方法

检测设备

PerkinElmerLambda950分光光度计:200-2500nm全波段光谱分析

EdinburghInstrumentsFLS1000稳态瞬态荧光光谱仪:量子效率精确测量

Q-SUNXe-3-HS氙灯老化箱:模拟全光谱环境老化

BYKmicro-TRI-gloss多角度光泽度计:20/60/85三角度测量

MitutoyoLitematicVL-50S测厚仪:0.1μm分辨率厚度测量

OlympusBX53M荧光显微镜:400-700nm多波段激发观测

Taber5135耐磨试验机:CS-10磨轮1000g载荷循环测试

ESPECPL-3KPH恒温恒湿箱:温湿度复合环境模拟

KonicaMinoltaCS-2000分光辐射亮度计:0.001cd/m灵敏度测量

BrukerDektakXT轮廓仪:0.1nm垂直分辨率表面形貌分析

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与荧光片系列检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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