检测项目

1.粒子能量分布范围：测量1MeV至10GeV能区带电粒子的初始动能偏差（0.5%）

2.平均射程测定：记录α粒子在铝中的典型射程(16.80.3mg/cm)及质子在水中的Bragg峰位置(2605MeV)

3.射程离散度分析：计算重离子在硅材料中的纵向离散(σ≤3%)和横向扩散(θ<0.5)

4.阻止本领测试：测定电子在铅中的线性阻止系数(13.9MeVcm/g@100MeV)

5.射程-能量关系曲线：建立碳离子在生物组织中的连续能量沉积模型(E=50-400MeV/u)

检测范围

1.半导体材料：硅晶圆(300-450μm)、砷化镓基板(100-200μm)

2.金属合金：航空级铝合金(6061-T6)、核级锆合金(Zr-4)

3.聚合物薄膜：聚酰亚胺(KaptonHN)、聚乙烯(PE1000)

4.生物等效材料：肌肉组织模拟物(ICRU-44)、骨密度等效树脂

5.辐射屏蔽材料：含硼聚乙烯板(5%B4C)、钨镍合金(W90Ni10)

检测方法

ASTME521-16：采用带电粒子辐照法测定位移损伤剂量

ISO4037-3:2019：X/γ参考辐射场中的剂量当量测量

GB/T14055.1-2021：中子参考辐射场建立与表征规范

IEC60749-39:2021：半导体器件重离子单粒子效应测试

GB/T12162.3-2021：X射线防护材料衰减性能测试

检测设备

1.Pelletron5SDH-2型串列静电加速器：提供0.5-10MeV质子束流

2.ORTECGEM-C5060高纯锗探测器：能量分辨率≤1.8keV@1.33MeV

3.CAENDT5781数字化能谱仪：支持4096道脉冲高度分析

4.HamamatsuC12137飞行时间探测器：时间分辨率≤200ps

5.PTWPeakfinderX射线能谱仪：测量范围10keV至300keV

6.BrukerD8ADVANCEXRD系统：分析辐照诱导晶格畸变

7.VarianClinaciX直线加速器：产生6-20MeV电子束

8.FLUKA蒙特卡罗模拟平台：计算三维剂量分布

9.OxfordDanfysik离子注入机：束流强度0.1-100μA可调

10.Keithley2450源表系统：实时监测样品电学特性变化

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与粒子射程检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。