表面复形检测概述:检测项目1.表面粗糙度检测:Ra(算术平均偏差)0.01-25μm范围测量,Rz(最大高度)精度5%2.三维形貌分析:Sa(三维粗糙度)0.1-100μm分辨率,局部曲率半径测量精度0.1μm3.微观结构尺寸测定:特征尺寸测量范围0.1-500μm,重复性误差≤0.5%4.表面缺陷检测:裂纹识别灵敏度≥1μm深度,孔隙率计算误差0.3%5.涂层厚度测量:层厚分辨率0.01-2000μm,多层结构界面识别精度2nm检测范围1.金属材料:铝合金阳极氧化层、不锈钢抛光面、钛合金切削面2.高分子材料:注塑件成型面
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.表面粗糙度检测:Ra(算术平均偏差)0.01-25μm范围测量,Rz(最大高度)精度5%
2.三维形貌分析:Sa(三维粗糙度)0.1-100μm分辨率,局部曲率半径测量精度0.1μm
3.微观结构尺寸测定:特征尺寸测量范围0.1-500μm,重复性误差≤0.5%
4.表面缺陷检测:裂纹识别灵敏度≥1μm深度,孔隙率计算误差0.3%
5.涂层厚度测量:层厚分辨率0.01-2000μm,多层结构界面识别精度2nm
1.金属材料:铝合金阳极氧化层、不锈钢抛光面、钛合金切削面
2.高分子材料:注塑件成型面、薄膜涂层表面、复合材料界面
3.陶瓷材料:烧结体晶界结构、热障涂层截面、精密陶瓷抛光面
4.电子元件:PCB焊盘平整度、芯片封装界面、FPC柔性基材
5.光学元件:透镜曲率面型、镀膜层均匀性、棱镜角度偏差
1.接触式轮廓法:ASTMD7127-2017规定金刚石探针半径2μm标准
2.白光干涉术:ISO25178-2:2022三维表面纹理测量规范
3.激光共聚焦法:GB/T34879-2017微纳米尺度测量技术要求
4.SEM图像分析法:GB/T27760-2011扫描电镜标样校准规程
5.X射线衍射法:ASTME2848-19残余应力测试标准
1.BrukerContourGT-K3D白光干涉仪:垂直分辨率0.1nm,最大扫描面积5050mm
2.KeyenceVK-X3000激光共聚焦显微镜:1200万像素CCD,Z轴重复精度5nm
3.TaylorHobsonFormTalysurfi系列轮廓仪:16mm量程,0.8nmRMS噪声水平
4.ZeissSmartproof5共聚焦显微镜:多模式物镜组(5~150),XYZ三轴闭环控制
5.OlympusLEXTOLS5000激光显微镜:405nm激光波长,120nm横向分辨率
6.MitutoyoSJ-410便携式粗糙度仪:16μm量程,符合ISO4288:1996标准
7.NikonEclipseLV150金相显微镜:12:1变倍比物镜,微分干涉对比功能
8.HitachiSU5000热场发射电镜:1nm分辨率(15kV),EDS能谱联用系统
9.PanasonicVHX-7000数字显微镜:4KCMOS传感器景深合成功能
10.ZygoNewView9000干涉仪:100100mm视场拼接测量模式
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与表面复形检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。