硒酸铯检测概述:检测项目1.纯度检测:Cs₂SeO₄含量≥99.5%(质量分数),采用差示扫描量热法(DSC)测定熔融峰面积积分2.杂质元素分析:Fe≤10ppm、Na≤50ppm、K≤30ppm(ICP-OES法)3.晶体结构表征:晶胞参数a=5.680.02(XRD全谱拟合Rwp≤8%)4.水分含量:H₂O≤0.1%(卡尔费休库仑法)5.粒度分布:D50=10-15μm(激光衍射法Mie理论模型)检测范围1.高纯硒酸铯晶体(电子级纯度≥99.99%)2.核工业屏蔽材料复合物(Cs₂SeO₄/PbO体系)3.光电转换材
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.纯度检测:Cs₂SeO₄含量≥99.5%(质量分数),采用差示扫描量热法(DSC)测定熔融峰面积积分
2.杂质元素分析:Fe≤10ppm、Na≤50ppm、K≤30ppm(ICP-OES法)
3.晶体结构表征:晶胞参数a=5.680.02(XRD全谱拟合Rwp≤8%)
4.水分含量:H₂O≤0.1%(卡尔费休库仑法)
5.粒度分布:D50=10-15μm(激光衍射法Mie理论模型)
1.高纯硒酸铯晶体(电子级纯度≥99.99%)
2.核工业屏蔽材料复合物(Cs₂SeO₄/PbO体系)
3.光电转换材料前驱体(Cs₂SeO₄-CdTe薄膜)
4.医药中间体原料(注射级Cs₂SeO₄H₂O)
5.催化剂载体(Cs₂SeO₄/Al₂O₌复合材料)
1.ASTME1479-16《电感耦合等离子体原子发射光谱法测定高纯化学品中杂质》
2.ISO17034:2016《标准物质生产商能力要求》(用于标准样品制备)
3.GB/T23942-2009《化学试剂电感耦合等离子体原子发射光谱法通则》
4.JISK0133:2007《X射线衍射定量分析方法通则》
5.GB/T6283-2008《化工产品中水分含量的测定卡尔费休法》
1.X射线衍射仪:PANalyticalX'Pert3Powder,配备HighScorePlus软件进行Rietveld精修
2.ICP-OES光谱仪:ThermoScientificiCAP7400,轴向观测模式检出限≤1ppb
3.激光粒度分析仪:MalvernMastersizer3000,测量范围0.01-3500μm
4.热分析系统:NETZSCHSTA449F5Jupiter,同步TG-DSC测量精度0.1μg
5.水分测定仪:Metrohm851Titrando,库仑法分辨率0.1μgH₂O
6.扫描电镜:HitachiSU5000,配备EDAXOctaneElite能谱仪(空间分辨率1nm)
7.离子色谱仪:DionexICS-6000,电导检测器基线噪声<0.5nS/cm
8.紫外分光光度计:ShimadzuUV-2600i,波长范围185-900nm(杂散光≤0.015%)
9.微波消解仪:CEMMARS6,40位转子最高温度300℃1℃
10.手套箱系统:MBRAUNUNILabProSP,氧含量<0.1ppm(惰性气氛样品处理)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与硒酸铯检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。