检测项目
1.电荷分布密度：测量精度0.01e/nm
2.核子结合能：分辨率达0.1MeV
3.π介子寿命：测定范围10⁻⁶~10⁻⁸秒
4.K介子衰变模式：识别5种以上衰变通道
5.超子能级跃迁：捕捉ΔE≥50keV的跃迁事件
检测范围
1.半导体掺杂材料（硅/锗基化合物）
2.核反应堆结构材料（锆合金/不锈钢）
3.高能物理探测器晶体（BGO/NaI(Tl)）
4.放射性同位素药物（⁹⁹ᵐTc标记化合物）
5.航天器抗辐射涂层（聚乙烯/碳化硼复合材料）
检测方法
ASTME1854-19：带电粒子活化分析规程
ISO21482:2018：离子束分析-卢瑟福背散射谱法
GB/T11813-2021：核级锆合金氢化物取向测定
GB4075-2008：密封放射源泄漏检验方法
ISO18589-4:2019：环境辐射测量-α谱分析法
检测设备
1.ThermoScientificQExactiveHF-X质谱仪：质量分辨率240,000FWHM
2.Agilent8900ICP-MS/MS：检出限达0.1ng/L
3.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：角度重复性0.0001
4.ORTECGEM-C5060HPGe探测器：能量分辨率1.7keV@1.33MeV
5.JEOLJEM-ARM300F球差电镜：点分辨率0.05nm
6.PerkinElmerLAMBDA1050+紫外分光光度计：波长精度0.08nm
7.ShimadzuEDX-8000X荧光光谱仪：元素分析范围Be~U
8.CANBERRAFalcon5000αβ低本底测量系统：本底≤0.1cpm
9.HAMAMATSUC12137超快光子计数器：时间分辨率10ps
10.OxfordInstrumentsX-MaxN150SDD能谱仪：计数率500kcps