检测项目
1.静电力系数测定：测量范围0.01mN~10N，分辨率0.5%FS
2.介电常数测试：频率范围1kHz~1MHz，精度0.05%
3.电场分布均匀性分析：空间分辨率≤10μm，场强范围0~50kV/cm
4.电荷衰减特性：时间常数测量精度1μs~1000s
5.击穿场强测试：电压范围DC0~100kV，升压速率0.1~5kV/s
检测范围
1.高分子绝缘材料：聚酰亚胺薄膜、硅橡胶密封件
2.金属-陶瓷复合基板：LED封装基板、功率模块衬底
3.电子元器件：电容器介质层、连接器绝缘体
4.功能涂层材料：抗静电涂料、电磁屏蔽镀层
5.纳米复合材料：石墨烯增强聚合物、碳纳米管掺杂体系
检测方法
ASTMD257-14：绝缘材料直流电阻测试标准
IEC60250:1969：介质损耗因数测量规范
GB/T1410-2006：固体绝缘材料体积电阻率试验方法
ISO1853:2018：导电橡胶电阻率测定规程
GB/T1693-2007：硫化橡胶介电常数试验方法
检测设备
KeysightB2987A静电计：分辨率0.01fA，支持10^17Ω阻抗测量
HIOKIIM3570阻抗分析仪：频率范围4Hz~5MHz，基本精度0.08%
Trek610E高压放大器：输出电压20kVDC/AC，带宽DC~5kHz
Keithley6517B静电计/高阻表：最大电阻测量10^16Ω
AgilentE4980ALCR表：基本精度0.05%，测试速度5ms/点
HaefelyHipotronics800系列耐压测试仪：AC0~50kV/DC0~70kV
MitsubishiHV-100表面电位计：测量范围20kV，分辨率1V
OmicronBDS1300击穿强度测试系统：符合IEC60243标准要求
ZimmerPE-50静电衰减测试仪：符合ANSI/ESDSTM11.11标准
ThermoScientificCIRRUS2电荷成像系统：空间分辨率50μm/pixel