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色散位移凸型折射率分布光纤检测

  • 原创官网
  • 2025-03-04 15:13:17
  • 关键字:色散位移凸型折射率分布光纤测试方法,色散位移凸型折射率分布光纤测试范围,色散位移凸型折射率分布光纤测试机构
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色散位移凸型折射率分布光纤检测概述:色散位移凸型折射型折射率分布光纤检测是光通信领域的关键质量控制环节,主要针对光纤的色散特性、折射率梯度分布、几何参数及传输性能进行系统化测试。核心检测项目包括色散系数、截止波长、模场直径、弯曲损耗及折射率剖面精度,需依据IEC、GB/T等标准规范执行,确保光纤在高速通信系统中的稳定性和兼容性。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

色散系数:测量范围±20 ps/(nm·km),精度±0.5 ps/(nm·km)

折射率分布:Δ值偏差≤0.0003,α参数误差±0.05

截止波长:测试范围1200-1600 nm,分辨率0.1 nm

模场直径:测量精度±0.2 μm(@1310 nm/1550 nm)

弯曲损耗:弯曲半径7.5 mm时损耗≤0.5 dB

检测范围

单模色散位移光纤(DSF)

非零色散位移光纤(NZ-DSF)

大有效面积光纤(LEAF)

色散补偿光纤模块

光子晶体光纤(PCF)

检测方法

色散系数:TIA-455-168(相移法),GB/T 15972.44-2021

折射率分布:IEC 60793-1-42(近场扫描法),GB/T 15972.45-2022

截止波长:ISO/IEC 60793-1-44(多模参考法),GB/T 15972.46-2018

模场直径:ASTM E1883-20(可变孔径法)

弯曲损耗:ITU-T G.650.3(宏弯测试规程)

检测设备

EXFO FTB-5240S色散分析仪:C+L波段色散测量,动态范围32 dB

Yokogawa AQ2200-321折射率分析系统:空间分辨率0.5 μm,重复性±0.0001

Anritsu MS9740B光谱分析仪:波长精度±10 pm,功率灵敏度-90 dBm

Viavi T-BERD/MTS-8000光时域反射仪:事件盲区0.8 m,衰减分辨率0.001 dB

Photon Kinetics PK2600光纤几何测试仪:芯径测量精度±0.1 μm,涂层直径公差±0.5 μm

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与色散位移凸型折射率分布光纤检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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