光电导性检测概述:检测项目1.暗电流密度:测量无光照条件下的漏电流值(单位:A/cm),精度要求1%2.光响应时间:记录光照开启至电流达到90%稳定值的时间(单位:μs),分辨率≤1ns3.光谱响应范围:测定材料在200-2000nm波长范围内的灵敏度曲线(步长5nm)4.载流子迁移率:计算电子/空穴迁移率(单位:cm/(Vs)),温度控制0.5℃5.量子效率:测量单色光入射时的电子-光子转换效率(波长精度0.2nm)检测范围1.半导体材料:硅基/砷化镓/氮化镓晶圆及薄膜材料2.光伏产品:晶硅/薄膜太阳能电池组件及叠层器件
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.暗电流密度:测量无光照条件下的漏电流值(单位:A/cm),精度要求1%
2.光响应时间:记录光照开启至电流达到90%稳定值的时间(单位:μs),分辨率≤1ns
3.光谱响应范围:测定材料在200-2000nm波长范围内的灵敏度曲线(步长5nm)
4.载流子迁移率:计算电子/空穴迁移率(单位:cm/(Vs)),温度控制0.5℃
5.量子效率:测量单色光入射时的电子-光子转换效率(波长精度0.2nm)
1.半导体材料:硅基/砷化镓/氮化镓晶圆及薄膜材料
2.光伏产品:晶硅/薄膜太阳能电池组件及叠层器件
3.光敏器件:光电二极管/光电晶体管/CCD图像传感器
4.光电探测器:紫外/可见/红外波段探测模块
5.有机光电材料:OLED/OPV用共轭聚合物及钙钛矿材料
1.ASTMF391-2021《半导体材料载流子寿命测试标准方法》
2.ISO13468-2:2021《塑料总透光率测定-双光束法》
3.GB/T1553-2020《半导体单晶晶向测定方法》
4.IEC60904-8:2014《光伏器件光谱响应测量》
5.GB/T6495.8-2002《光伏器件第8部分:光伏组件光电特性测量》
1.Keithley4200A-SCS参数分析仪:支持DC-IV/CV/LIV全特性测试
2.Agilent4155C半导体分析仪:高精度暗电流测量(分辨率0.1fA)
3.OrielSol3A太阳模拟器:AAA级光谱匹配度(AM1.5G标准)
4.BenthamPVE300量子效率测试系统:光谱范围200-2500nm
5.KeysightB1500A波形发生器:脉冲宽度可调至10ns级
6.LabsphereLMS-7600积分球系统:光通量测量精度0.8%
7.ThermoScientificNicoletiS50FTIR光谱仪:中红外波段材料表征
8.JASCOV-770紫外可见分光光度计:波长精度0.1nm
9.LakeshoreCRX-4K低温探针台:温控范围4K-500K
10.HamamatsuC12132光电响应分析仪:时间分辨率达50ps级
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与光电导性检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。