检测项目
1.暗电流密度：测量无光照条件下的漏电流值（单位：A/cm），精度要求1%
2.光响应时间：记录光照开启至电流达到90%稳定值的时间（单位：μs），分辨率≤1ns
3.光谱响应范围：测定材料在200-2000nm波长范围内的灵敏度曲线（步长5nm）
4.载流子迁移率：计算电子/空穴迁移率（单位：cm/(Vs)），温度控制0.5℃
5.量子效率：测量单色光入射时的电子-光子转换效率（波长精度0.2nm）
检测范围
1.半导体材料：硅基/砷化镓/氮化镓晶圆及薄膜材料
2.光伏产品：晶硅/薄膜太阳能电池组件及叠层器件
3.光敏器件：光电二极管/光电晶体管/CCD图像传感器
4.光电探测器：紫外/可见/红外波段探测模块
5.有机光电材料：OLED/OPV用共轭聚合物及钙钛矿材料
检测方法
1.ASTMF391-2021《半导体材料载流子寿命测试标准方法》
2.ISO13468-2:2021《塑料总透光率测定-双光束法》
3.GB/T1553-2020《半导体单晶晶向测定方法》
4.IEC60904-8:2014《光伏器件光谱响应测量》
5.GB/T6495.8-2002《光伏器件第8部分：光伏组件光电特性测量》
检测设备
1.Keithley4200A-SCS参数分析仪：支持DC-IV/CV/LIV全特性测试
2.Agilent4155C半导体分析仪：高精度暗电流测量（分辨率0.1fA）
3.OrielSol3A太阳模拟器：AAA级光谱匹配度（AM1.5G标准）
4.BenthamPVE300量子效率测试系统：光谱范围200-2500nm
5.KeysightB1500A波形发生器：脉冲宽度可调至10ns级
6.LabsphereLMS-7600积分球系统：光通量测量精度0.8%
7.ThermoScientificNicoletiS50FTIR光谱仪：中红外波段材料表征
8.JASCOV-770紫外可见分光光度计：波长精度0.1nm
9.LakeshoreCRX-4K低温探针台：温控范围4K-500K
10.HamamatsuC12132光电响应分析仪：时间分辨率达50ps级