实测天文学检测

检测项目

1.天体光谱分析：波长范围200-2500nm，分辨率≤0.1nm（FWHM），信噪比≥100:1

2.光学系统波前误差：RMS值≤λ/20（λ=632.8nm），PV值≤λ/4

3.CCD量子效率：300-1100nm波段QE≥90%，暗电流≤0.01e-/pixel/s@-100℃

4.镜面反射率：紫外-近红外波段（250-2000nm）平均反射率≥98.5%

5.低温真空环境测试：温度循环范围-196℃至+50℃，真空度≤110⁻⁵Pa

检测范围

1.大口径光学镜片：直径≥1m的抛物面/非球面镜片基材

2.科学级CCD/CMOS传感器：像素尺寸3-15μm的背照式探测器

3.窄带滤光片：通带半宽≤5nm的干涉型滤光组件

4.射电望远镜馈源系统：频率覆盖1-40GHz的波导组件

5.空间天文载荷：抗辐射加固型电子学系统及支撑结构

检测方法

ASTME490-00a(2019)：太阳辐射光谱辐照度测量标准

ISO10934:2006：天文望远镜光学系统测试规范

GB/T18310.48-2003：纤维光学器件环境试验方法

ISO10109-11:2021：光学仪器环境试验要求

GB/T32655-2016：天文望远镜用光学零件技术要求

检测设备

1.ZYGOVerifireMST干涉仪：波长632.8nm，精度λ/1000的波前测量系统

2.OceanOpticsHR4000CG-UV-NIR光谱仪：200-1100nm宽谱段高分辨率分析仪

3.LeyboldCoolvac8.0低温真空系统：极限真空510⁻⁷Pa的温控测试舱

4.AgilentN5227A矢量网络分析仪：10MHz-67GHz射频器件性能测试平台

5.LabsphereUSS-2000C均匀光源系统：1%均匀度的全波段积分球光源

6.ThermoScientificESCALABXi+XPS：表面反射膜层成分分析设备

7.BrukerContourGT-K光学轮廓仪：垂直分辨率0.1nm的表面形貌测量仪

8.Keithley4200A-SCS参数分析仪：半导体器件暗电流特性测试系统

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"实测天文学检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。