检测项目
1.天体光谱分析：波长范围200-2500nm，分辨率≤0.1nm（FWHM），信噪比≥100:1
2.光学系统波前误差：RMS值≤λ/20（λ=632.8nm），PV值≤λ/4
3.CCD量子效率：300-1100nm波段QE≥90%，暗电流≤0.01e-/pixel/s@-100℃
4.镜面反射率：紫外-近红外波段（250-2000nm）平均反射率≥98.5%
5.低温真空环境测试：温度循环范围-196℃至+50℃，真空度≤110⁻⁵Pa
检测范围
1.大口径光学镜片：直径≥1m的抛物面/非球面镜片基材
2.科学级CCD/CMOS传感器：像素尺寸3-15μm的背照式探测器
3.窄带滤光片：通带半宽≤5nm的干涉型滤光组件
4.射电望远镜馈源系统：频率覆盖1-40GHz的波导组件
5.空间天文载荷：抗辐射加固型电子学系统及支撑结构
检测方法
ASTME490-00a(2019)：太阳辐射光谱辐照度测量标准
ISO10934:2006：天文望远镜光学系统测试规范
GB/T18310.48-2003：纤维光学器件环境试验方法
ISO10109-11:2021：光学仪器环境试验要求
GB/T32655-2016：天文望远镜用光学零件技术要求
检测设备
1.ZYGOVerifireMST干涉仪：波长632.8nm，精度λ/1000的波前测量系统
2.OceanOpticsHR4000CG-UV-NIR光谱仪：200-1100nm宽谱段高分辨率分析仪
3.LeyboldCoolvac8.0低温真空系统：极限真空510⁻⁷Pa的温控测试舱
4.AgilentN5227A矢量网络分析仪：10MHz-67GHz射频器件性能测试平台
5.LabsphereUSS-2000C均匀光源系统：1%均匀度的全波段积分球光源
6.ThermoScientificESCALABXi+XPS：表面反射膜层成分分析设备
7.BrukerContourGT-K光学轮廓仪：垂直分辨率0.1nm的表面形貌测量仪
8.Keithley4200A-SCS参数分析仪：半导体器件暗电流特性测试系统