电子探针射线显微分析检测

检测项目1.元素定性定量分析:测量Be-U范围内元素含量(精度0.1wt%),采用ZAF矩阵校正法2.线扫描分析:沿设定路径连续采集元素浓度(步长0.1-10μm)3.面分布分析:生成5050μm至22mm区域元素分布图(像素分辨率≤50nm)4.相组成鉴定:结合背散射电子像与X射线能谱进行物相识别5.深度剖析:通过层剥蚀技术获取元素浓度梯度(深度分辨率10nm)检测范围1.金属材料:高温合金元素偏析(Ni基/Co基)、钢中夹杂物(Al₂O₃/TiN)定量2.半导体器件:Si晶圆掺杂浓度(B/P/As)

原创阅读 142025-05-22工程师CMACNASISO高新技术企业

检测项目

1.元素定性定量分析:测量Be-U范围内元素含量(精度0.1wt%),采用ZAF矩阵校正法

2.线扫描分析:沿设定路径连续采集元素浓度(步长0.1-10μm)

3.面分布分析:生成5050μm至22mm区域元素分布图(像素分辨率≤50nm)

4.相组成鉴定:结合背散射电子像与X射线能谱进行物相识别

5.深度剖析:通过层剥蚀技术获取元素浓度梯度(深度分辨率10nm)

检测范围

1.金属材料:高温合金元素偏析(Ni基/Co基)、钢中夹杂物(Al₂O₃/TiN)定量

2.半导体器件:Si晶圆掺杂浓度(B/P/As)、焊点界面扩散层(Au-Sn/Cu-Sn)

3.地质样品:矿物主量元素测定(SiO₂/Al₂O₃/FeO)、稀土元素赋存状态

4.陶瓷材料:ZrO₂相变稳定剂(Y₂O₃/CeO₂)分布均匀性评估

5.生物医学材料:骨植入体表面羟基磷灰石Ca/P比(1.670.03)验证

检测方法

ASTME1508-12a:波长色散谱仪定量分析方法

ISO22309:2011:能谱法定量分析标准程序

GB/T17359-2023:微束分析能谱法定量通则

GB/T21636-2022:电子探针显微分析通用技术条件

JISK0133:2020:X射线显微分析仪校准规程

检测设备

JEOLJXA-8230:配备5道WDS+SDD探测器,加速电压0.1-30kV可调

CamecaSXFive:全聚焦罗兰圆设计,轻元素检测下限达50ppm

ShimadzuEPMA-8050G:配备石墨单色器,Cr-Kα分辨率优于5eV

TESCANMIRALMS:集成FIB-SEM-EPMA联用系统

OxfordInstrumentsUltimExtreme:能谱采集速率达500,000cps

HitachiEA1000VX:配备全自动样品台(100mm行程)

BrukerQUANTAXWDS:多毛细管光学系统实现μ-XRF联用

ThermoScientificNORANSystem7:支持低真空模式生物样品分析

AMETEKEDAXAPEXOIM:集成EBSD晶体取向分析模块

ZEISSSIGMAHD:Gemini电子光学镜筒提供1nm分辨率

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

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