电子探针射线显微分析检测

检测项目

1.元素定性定量分析：测量Be-U范围内元素含量（精度0.1wt%），采用ZAF矩阵校正法

2.线扫描分析：沿设定路径连续采集元素浓度（步长0.1-10μm）

3.面分布分析：生成5050μm至22mm区域元素分布图（像素分辨率≤50nm）

4.相组成鉴定：结合背散射电子像与X射线能谱进行物相识别

5.深度剖析：通过层剥蚀技术获取元素浓度梯度（深度分辨率10nm）

检测范围

1.金属材料：高温合金元素偏析（Ni基/Co基）、钢中夹杂物（Al₂O₃/TiN）定量

2.半导体器件：Si晶圆掺杂浓度（B/P/As）、焊点界面扩散层（Au-Sn/Cu-Sn）

3.地质样品：矿物主量元素测定（SiO₂/Al₂O₃/FeO）、稀土元素赋存状态

4.陶瓷材料：ZrO₂相变稳定剂（Y₂O₃/CeO₂）分布均匀性评估

5.生物医学材料：骨植入体表面羟基磷灰石Ca/P比（1.670.03）验证

检测方法

ASTME1508-12a:波长色散谱仪定量分析方法

ISO22309:2011:能谱法定量分析标准程序

GB/T17359-2023:微束分析能谱法定量通则

GB/T21636-2022:电子探针显微分析通用技术条件

JISK0133:2020:X射线显微分析仪校准规程

检测设备

JEOLJXA-8230:配备5道WDS+SDD探测器，加速电压0.1-30kV可调

CamecaSXFive:全聚焦罗兰圆设计，轻元素检测下限达50ppm

ShimadzuEPMA-8050G:配备石墨单色器，Cr-Kα分辨率优于5eV

TESCANMIRALMS:集成FIB-SEM-EPMA联用系统

OxfordInstrumentsUltimExtreme:能谱采集速率达500,000cps

HitachiEA1000VX:配备全自动样品台（100mm行程）

BrukerQUANTAXWDS:多毛细管光学系统实现μ-XRF联用

ThermoScientificNORANSystem7:支持低真空模式生物样品分析

AMETEKEDAXAPEXOIM:集成EBSD晶体取向分析模块

ZEISSSIGMAHD:Gemini电子光学镜筒提供1nm分辨率

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"电子探针射线显微分析检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。