图形芯片检测

检测项目1.电性能测试:包括静态功耗(μA级精度)、动态功耗(0.1mV电压分辨率)、时钟频率偏差(5ppm)2.热阻测试:结壳热阻RθJC(0.01C/W精度)、结环热阻RθJA(强制对流条件下测量)3.信号完整性:眼图抖动(ps级测量)、串扰容限(-40dB~+40dB扫描)4.封装可靠性:剪切强度(≥50N/mm)、温度循环(-55C~+150C1000次循环)5.电磁兼容性:辐射发射(30MHz-6GHz频段)、静电放电(8kV接触放电)检测范围1.独立显卡GPU芯片:NVIDIAAmpere架构

原创阅读 162025-05-22工程师CMACNASISO高新技术企业

检测项目

1.电性能测试:包括静态功耗(μA级精度)、动态功耗(0.1mV电压分辨率)、时钟频率偏差(5ppm)

2.热阻测试:结壳热阻RθJC(0.01C/W精度)、结环热阻RθJA(强制对流条件下测量)

3.信号完整性:眼图抖动(ps级测量)、串扰容限(-40dB~+40dB扫描)

4.封装可靠性:剪切强度(≥50N/mm)、温度循环(-55C~+150C1000次循环)

5.电磁兼容性:辐射发射(30MHz-6GHz频段)、静电放电(8kV接触放电)

检测范围

1.独立显卡GPU芯片:NVIDIAAmpere架构/AMDRDNA3架构

2.嵌入式GPU:ARMMali系列/ImaginationPowerVR系列

3.AI加速芯片:TensorCore/MatrixEngine专用单元

4.游戏主机SoC:PlayStation/Xbox定制化图形模块

5.工业级GPU:符合IEC60721-3-4标准的抗震动/宽温域芯片

检测方法

1.JEDECJESD22-A104E:温度循环试验(条件G:-55C~+125C)

2.ISO16750-4:道路车辆电子设备振动测试(10Hz~2000Hz扫频)

3.GB/T2423.17-2008:盐雾腐蚀试验(5%NaCl溶液连续喷雾96h)

4.ASTMD1505-18:介电常数与损耗因子测量(1MHz~1GHz频段)

5.MIL-STD-883HMethod3015.8:机械冲击试验(1500g峰值加速度)

检测设备

1.KeysightB1500A半导体分析仪:支持fA级漏电流测量与100A脉冲电流输出

2.ThermoStreamT-2600温度冲击试验箱:温变速率达60C/s(-80C~+225C)

3.TektronixDPO73304SX示波器:33GHz带宽/200GS/s采样率信号采集系统

4.ESPECEHS-211M恒温恒湿箱:湿度控制精度2%RH(10%~98%RH范围)

5.Instron6800系列万能材料试验机:500kN载荷精度0.5%的封装强度测试

6.AgilentN9030B频谱分析仪:44GHz频率范围EMI预兼容测试解决方案

7.SonixHS-1000超声波扫描显微镜:15MHz探头实现10μm分辨率缺陷检测

8.Chroma3380电源负载系统:多通道同步供电测试(0.05%电压精度)

9.FLIRX8580红外热像仪:12801024分辨率下热分布成像(NETD<18mK)

10.OLYMPUSDSX1000数码显微镜:20nm纵向分辨率的焊点形貌分析

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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