检测项目

1.临界过饱和度测定：温度范围-10℃至80℃，浓度梯度0.1-5.0mol/L
2.晶核生成速率分析：粒径阈值50-500nm，时间分辨率0.1秒
3.晶体生长动力学研究：线性生长速率0.01-10μm/s
4.多晶型转变监测：XRD衍射角5-90，热分析范围25-300℃
5.溶液介稳区宽度测定：电导率精度0.1μS/cm，浊度分辨率0.01NTU

检测范围

1.药物活性成分（API）：头孢类抗生素、他汀类药物晶体
2.工业结晶产品：硫酸铵、硝酸钾工业盐
3.纳米晶体材料：氧化锌量子点、碳酸钙纳米晶
4.食品添加剂：柠檬酸结晶、乳酸钙颗粒
5.半导体材料：硅晶圆表面微晶缺陷分析

检测方法

1.ASTME928-19：结晶温度测定法（梯度冷却法）
2.ISO19465:2016：晶体形貌定量表征规程
3.GB/T617-2006：化学试剂结晶点测定通用方法
4.ASTMD5386-16：溶液浊度法介稳区测定
5.GB/T30447-2013：纳米薄膜晶体取向测试方法

检测设备

1.MalvernMastersizer3000：激光粒度分析（0.01-3500μm）
2.METTLERToledoCrystal16：多通道结晶过程监测系统
3.RigakuSmartLabX射线衍射仪：晶型结构解析（Cu靶,45kV/200mA）
4.AntonPaarLitesizer500：动态光散射纳米粒度分析
5.TAInstrumentsQ2000DSC：差示扫描量热仪（-90℃至550℃）
6.HORIBALA-960V2：激光散射比表面积分析仪
7.BrukerDimensionIconAFM：原子力显微镜表面形貌分析
8.ShimadzuUV-2600i：紫外可见分光光度计（溶液浓度测定）
9.Metrohm856ConductivityModule：高精度电导率仪（0.5%精度）
10.ZeissAxioImagerA2m：偏光显微镜（500晶型观测）