过饱和结晶学说检测概述:检测项目1.临界过饱和度测定:温度范围-10℃至80℃,浓度梯度0.1-5.0mol/L2.晶核生成速率分析:粒径阈值50-500nm,时间分辨率0.1秒3.晶体生长动力学研究:线性生长速率0.01-10μm/s4.多晶型转变监测:XRD衍射角5-90,热分析范围25-300℃5.溶液介稳区宽度测定:电导率精度0.1μS/cm,浊度分辨率0.01NTU检测范围1.药物活性成分(API):头孢类抗生素、他汀类药物晶体2.工业结晶产品:硫酸铵、硝酸钾工业盐3.纳米晶体材料:氧化锌量子点、碳酸钙纳米晶4.食品添
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.临界过饱和度测定:温度范围-10℃至80℃,浓度梯度0.1-5.0mol/L
2.晶核生成速率分析:粒径阈值50-500nm,时间分辨率0.1秒
3.晶体生长动力学研究:线性生长速率0.01-10μm/s
4.多晶型转变监测:XRD衍射角5-90,热分析范围25-300℃
5.溶液介稳区宽度测定:电导率精度0.1μS/cm,浊度分辨率0.01NTU
1.药物活性成分(API):头孢类抗生素、他汀类药物晶体
2.工业结晶产品:硫酸铵、硝酸钾工业盐
3.纳米晶体材料:氧化锌量子点、碳酸钙纳米晶
4.食品添加剂:柠檬酸结晶、乳酸钙颗粒
5.半导体材料:硅晶圆表面微晶缺陷分析
1.ASTME928-19:结晶温度测定法(梯度冷却法)
2.ISO19465:2016:晶体形貌定量表征规程
3.GB/T617-2006:化学试剂结晶点测定通用方法
4.ASTMD5386-16:溶液浊度法介稳区测定
5.GB/T30447-2013:纳米薄膜晶体取向测试方法
1.MalvernMastersizer3000:激光粒度分析(0.01-3500μm)
2.METTLERToledoCrystal16:多通道结晶过程监测系统
3.RigakuSmartLabX射线衍射仪:晶型结构解析(Cu靶,45kV/200mA)
4.AntonPaarLitesizer500:动态光散射纳米粒度分析
5.TAInstrumentsQ2000DSC:差示扫描量热仪(-90℃至550℃)
6.HORIBALA-960V2:激光散射比表面积分析仪
7.BrukerDimensionIconAFM:原子力显微镜表面形貌分析
8.ShimadzuUV-2600i:紫外可见分光光度计(溶液浓度测定)
9.Metrohm856ConductivityModule:高精度电导率仪(0.5%精度)
10.ZeissAxioImagerA2m:偏光显微镜(500晶型观测)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与过饱和结晶学说检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。