检测项目

1.偏振态精度检测：测量线偏振/圆偏振态偏差角（0.1）

2.消光比测试：评估系统最小可测消光比（≥50dB）

3.波长范围验证：覆盖紫外-可见-近红外光谱（200-1700nm）

4.相位延迟量测定：分辨率达0.01λ（λ=632.8nm）

5.穆勒矩阵元素测量：9个矩阵元误差≤0.005

检测范围

1.光学薄膜：AR镀膜、反射镜、滤光片等

2.液晶显示材料：TFT-LCD单元盒厚与预倾角

3.光纤器件：保偏光纤、波分复用器、隔离器

4.晶体材料：铌酸锂、石英晶体双折射特性

5.生物医学样品：组织切片双折射成像分析

检测方法

ASTME2721-19：偏振光学元件消光比测试标准

ISO13653:2019：光学系统偏振敏感度测量规范

GB/T26824-2021：纳米薄膜椭圆偏振测量方法

ISO14880-4:2019：微透镜阵列波前畸变测试

GB/T36232-2018：液晶显示器光电参数测量规程

检测设备

HoribaiHR550：全自动成像椭偏仪（240-2500nm）

J.A.WoollamM-2000UI：宽谱穆勒矩阵椭偏仪（190-1700nm）

ThorlabsPAX1000VIS：四通道偏振分析仪（400-700nm）

OceanInsightSpectraPolarimeter-UV：微型光纤式偏振计（200-1100nm）

SENTECHSE850：深紫外偏振测量系统（150-400nm）

Agilent8509C：光波元件偏振分析仪（1270-1650nm）

HamamatsuC13534：高速旋转补偿器系统（10kHz采样率）

ShimadzuSPRM-300A：表面等离子共振联用偏振仪

HindsPEM-100：光弹调制器型精密偏振计（0.02精度）

LabsphereMSP300：多光谱偏振辐射测量系统（350-2500nm）