检测项目
1.谐振频率偏差：测量范围1kHz-10GHz，精度0.01%
2.介电常数稳定性：温度范围-55℃~150℃，频率扫描步长1MHz
3.品质因数（Q值）：测试频段100MHz-6GHz，分辨率0.1dB
4.阻抗特性曲线：50Ω系统匹配度误差≤2%
5.温度漂移系数：温控精度0.5℃，频率偏移量记录间隔10s
检测范围
1.压电陶瓷材料（PZT系列）
2.微波介质基板（RO4003C/Duroid5880）
3.磁性存储介质（Fe₃O₄/CoCrPt薄膜）
4.半导体晶圆（GaAs/SiC衬底）
5.高分子复合材料（PTFE/FR4层压板）
检测方法
1.ASTME1876-15阻抗分析仪法测定介电性能
2.GB/T11313.1-2013网络分析仪法测量S参数
3.IEC61189-3-719高温高湿环境频率漂移测试
4.ISO2878:2017磁性材料动态磁导率测定
5.GB/T1409-2006高频介质损耗角正切测试
检测设备
1.KeysightE4990A阻抗分析仪：20Hz-120MHz频段介电常数测量
2.Rohde&SchwarzZNB40矢量网络分析仪：10MHz-40GHzS参数测试
3.Agilent4294A精密阻抗分析仪：40Hz-110MHz高精度Q值测定
4.ESPECSH-642恒温恒湿箱：温控范围-70℃~180℃
5.LakeShore8600振动样品磁强计：DC-10kHz磁导率测试
6.AnritsuMS46122B扫频信号源：9kHz-43.5GHz信号输出
7.TektronixMDO3104混合域示波器：实时频谱监测功能
8.FLIRA655sc红外热像仪：非接触式温度场分布监测
9.HIOKIIM3590化学阻抗分析仪：电解材料频响特性测试
10.Chroma19032LCR测试系统：自动多点扫描功能