


概述:检测项目平面度误差:测量表面与理想平面的最大偏离值(单位:μm)表面粗糙度:Ra值范围0.1-6.3μm的轮廓算术平均偏差平行度公差:两平面间距波动量≤0.02mm/m局部凹陷深度:激光干涉法测定凹陷量≥5μm的缺陷热变形量:温度循环(-40℃~+85℃)下的形变量监测检测范围金属板材:冷轧钢板/铝合金板(厚度0.5-50mm)塑料薄膜:PET/PC基材(幅宽≤2000mm)光学镜片:球面/非球面透镜(直径Φ10-500mm)半导体晶圆:硅片/砷化镓基板(直径200-300mm)精密模具:注塑模/压铸模(
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人委托除外)。
因篇幅原因,CMA/CNAS/ISO证书以及未列出的项目/样品,请咨询在线工程师。
平面度误差:测量表面与理想平面的最大偏离值(单位:μm)
表面粗糙度:Ra值范围0.1-6.3μm的轮廓算术平均偏差
平行度公差:两平面间距波动量≤0.02mm/m
局部凹陷深度:激光干涉法测定凹陷量≥5μm的缺陷
热变形量:温度循环(-40℃~+85℃)下的形变量监测
金属板材:冷轧钢板/铝合金板(厚度0.5-50mm)
塑料薄膜:PET/PC基材(幅宽≤2000mm)
光学镜片:球面/非球面透镜(直径Φ10-500mm)
半导体晶圆:硅片/砷化镓基板(直径200-300mm)
精密模具:注塑模/压铸模(平面尺寸≤2m3m)
平面度误差:ISO12781-1:2011轮廓法/GB/T11337-2004对角线法
表面粗糙度:ASTME430-19光切法/GB/T1031-2009触针式测量
平行度校准:ASMEB89.3.7-2013激光跟踪仪多点定位法
微观形貌分析:ISO25178-2:2012白光干涉三维重构技术
热变形测试:IEC60068-2-14:2009温度梯度加载规程
三坐标测量机:MitutoyoCRYSTA-ApexS系列(空间精度1.5+L/300μm)
激光干涉仪:RenishawXL-80(线性分辨率0.001μm)
白光轮廓仪:BrukerContourGT-X8(垂直分辨率0.1nm)
数字水平仪:WYLERClinomic72000(角度分辨率0.001)
热变形试验箱:ESPECTSE-11-A(温控精度0.5℃)
表面粗糙度仪:TaylorHobsonFormTalysurfi-Series(Ra测量范围0.01-50μm)
光学平板仪:NikonNEXIVVMR-3020(投影放大倍率50X-2000X)
激光跟踪仪:LeicaAT960(最大测距80m,精度15μm+6μm/m)
三维扫描仪:GOMATOSQ(点云密度4Mpoints/s)
电子水平仪:SOKKIASDL30X(量程30,重复精度0.2″)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"相似平面检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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