检测项目

1.接触电阻测试：测量0-100A电流下动态电阻值（0.5mΩ精度）

2.熔池深度分析：采用三维轮廓仪测定0.1-5.0mm熔深范围（分辨率0.01μm）

3.维氏硬度检测：载荷500gf条件下测试HV200-600区间硬度值

4.元素扩散层厚度：通过EDS能谱分析测定5-50μm扩散层（误差0.8μm）

5.电弧侵蚀速率：模拟10A/24V直流电弧环境测定0.1-2.0mg/千次质量损失

检测范围

1.银基合金触点（AgCdO15、AgSnO2In2O3等）

2.铜基复合材料（CuCr40、CuW70/CuW80）

3.贵金属复合触点（PtIr10、AuNi9）

4.低压电器用触头组件（断路器、接触器）

5.高压开关设备触指系统（GIS隔离开关、真空灭弧室）

检测方法

ASTMB667-2018《电触头材料电阻率测试标准》

ISO18591:2017《金属电触头电弧侵蚀试验方法》

GB/T5587-2016《银基电触头材料化学分析方法》

IEC60413:2010《电触头表面粗糙度测试规程》

GB/T18035-2017《贵金属及其合金复合电触头技术要求》

检测设备

1.KeysightB2902A精密源表：实现nA级电流分辨率接触电阻测试

2.OlympusGX53金相显微镜：配备5000倍物镜的微观组织分析系统

3.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：物相结构分析精度达0.0001

4.Wilson402MVD显微硬度计：符合ISO6507标准的自动压痕测量系统

5.ZEISSCrossbeam550FIB-SEM：具备FIB切割功能的纳米级三维重构电镜

6.CEASTHV-5000高压电弧试验机：可模拟50kA短路电流的加速老化平台

7.ThermoFisherARLiSpark8860直读光谱仪：元素成分分析精度达ppm级

8.MitutoyoSJ-410表面轮廓仪：Z轴分辨率1nm的熔池形貌测量装置

9.HIOKIRM3545微电阻计：四端子法测量0.01μΩ~3.5MΩ宽量程电阻

10.NetzschSTA449F3同步热分析仪：同步测定材料热重与差热变化曲线