检测项目
1.接触电阻测试：测量0-100A电流下动态电阻值（0.5mΩ精度）
2.熔池深度分析：采用三维轮廓仪测定0.1-5.0mm熔深范围（分辨率0.01μm）
3.维氏硬度检测：载荷500gf条件下测试HV200-600区间硬度值
4.元素扩散层厚度：通过EDS能谱分析测定5-50μm扩散层（误差0.8μm）
5.电弧侵蚀速率：模拟10A/24V直流电弧环境测定0.1-2.0mg/千次质量损失
检测范围
1.银基合金触点（AgCdO15、AgSnO2In2O3等）
2.铜基复合材料（CuCr40、CuW70/CuW80）
3.贵金属复合触点（PtIr10、AuNi9）
4.低压电器用触头组件（断路器、接触器）
5.高压开关设备触指系统（GIS隔离开关、真空灭弧室）
检测方法
ASTMB667-2018《电触头材料电阻率测试标准》
ISO18591:2017《金属电触头电弧侵蚀试验方法》
GB/T5587-2016《银基电触头材料化学分析方法》
IEC60413:2010《电触头表面粗糙度测试规程》
GB/T18035-2017《贵金属及其合金复合电触头技术要求》
检测设备
1.KeysightB2902A精密源表：实现nA级电流分辨率接触电阻测试
2.OlympusGX53金相显微镜：配备5000倍物镜的微观组织分析系统
3.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：物相结构分析精度达0.0001
4.Wilson402MVD显微硬度计：符合ISO6507标准的自动压痕测量系统
5.ZEISSCrossbeam550FIB-SEM：具备FIB切割功能的纳米级三维重构电镜
6.CEASTHV-5000高压电弧试验机：可模拟50kA短路电流的加速老化平台
7.ThermoFisherARLiSpark8860直读光谱仪：元素成分分析精度达ppm级
8.MitutoyoSJ-410表面轮廓仪：Z轴分辨率1nm的熔池形貌测量装置
9.HIOKIRM3545微电阻计：四端子法测量0.01μΩ~3.5MΩ宽量程电阻
10.NetzschSTA449F3同步热分析仪：同步测定材料热重与差热变化曲线