检测项目
导体电阻率：20℃环境下电阻率检测（范围1.55×10⁻⁸~2.80×10⁻⁸ Ω·m）
绝缘层厚度：单点测量精度±0.001mm，检测范围0.05~0.5mm
耐压强度：AC 1kV~5kV/1min或DC 2kV~10kV/1min击穿测试
弯曲疲劳性能：半径3mm~10mm弯曲角度180°，循环次数≥5000次
热稳定性：温度循环测试（-40℃~200℃，ΔT≤3℃/min）
检测范围
电磁线：铜芯/铝芯聚酯、聚酰亚胺涂层绕组线
漆包线：UEW/EIW/EI/AIW等级别圆线、扁线
绕组线：纸包绕组线、玻璃丝包绕组线
电缆绕组：变频电机用PEEK绝缘绕组线
特种合金绕组：镍基合金、铜合金超导绕组材料
检测方法
导体电阻率：ASTM B193、GB/T 3048.2-2007四端子法
绝缘厚度：ISO 6722:2011截面显微测量法、GB/T 7095.3-2008
耐压测试：IEC 60851-5:2008、GB/T 3048.8-2007
弯曲试验：ASTM D2518-22三点弯曲法、GB/T 2951.31-2008
热老化测试：IEC 60085-4:2019、GB/T 11026.1-2016
检测设备
Keysight 34461A 6½位数字万用表：电阻测量分辨率0.1μΩ
Mitutoyo LITEMATIC VL-50数显测厚仪：测量力0.1N~0.5N可调
Hipotronics HPO40-20R交流耐压测试仪：0~40kV AC/DC输出
Tinius Olsen 68SC-5电子万能试验机：弯曲速率0.1~500mm/min
ESPEC STH-120温度冲击试验箱：-70℃~+220℃温变控制