检测项目

导体电阻率：20℃环境下电阻率检测（范围1.55×10⁻⁸~2.80×10⁻⁸ Ω·m）

绝缘层厚度：单点测量精度±0.001mm，检测范围0.05~0.5mm

耐压强度：AC 1kV~5kV/1min或DC 2kV~10kV/1min击穿测试

弯曲疲劳性能：半径3mm~10mm弯曲角度180°，循环次数≥5000次

热稳定性：温度循环测试（-40℃~200℃，ΔT≤3℃/min）

检测范围

电磁线：铜芯/铝芯聚酯、聚酰亚胺涂层绕组线

漆包线：UEW/EIW/EI/AIW等级别圆线、扁线

绕组线：纸包绕组线、玻璃丝包绕组线

电缆绕组：变频电机用PEEK绝缘绕组线

特种合金绕组：镍基合金、铜合金超导绕组材料

检测方法

导体电阻率：ASTM B193、GB/T 3048.2-2007四端子法

绝缘厚度：ISO 6722:2011截面显微测量法、GB/T 7095.3-2008

耐压测试：IEC 60851-5:2008、GB/T 3048.8-2007

弯曲试验：ASTM D2518-22三点弯曲法、GB/T 2951.31-2008

热老化测试：IEC 60085-4:2019、GB/T 11026.1-2016

检测设备

Keysight 34461A 6½位数字万用表：电阻测量分辨率0.1μΩ

Mitutoyo LITEMATIC VL-50数显测厚仪：测量力0.1N~0.5N可调

Hipotronics HPO40-20R交流耐压测试仪：0~40kV AC/DC输出

Tinius Olsen 68SC-5电子万能试验机：弯曲速率0.1~500mm/min

ESPEC STH-120温度冲击试验箱：-70℃~+220℃温变控制