检测项目

1.总硅含量测定：检测范围0.01%-99.9%，分辨率0.05%

2.反应温度控制：工作区间1200-1600℃，精度5℃

3.还原剂配比分析：CaO/SiO₂摩尔比1.8-2.5，误差≤0.05

4.金属收得率计算：基于产物质量与原料质量比，精度0.3%

5.杂质元素检测：Al（≤0.15%）、Ca（≤0.08%）、Fe（≤0.25%）

检测范围

1.冶金级工业硅（Si≥98.5%）

2.硅铁合金（FeSi75/FeSi90系列）

3.多晶硅原料（太阳能级/电子级）

4.硅基耐火材料（碳化硅/氮化硅制品）

5.冶金炉渣（CaO-SiO₂-Al₂O₃体系）

检测方法

ASTME120-21《硅铁合金化学分析方法》

ISO16962:2018《表面化学分析-硅基材料深度剖析》

GB/T14849.4-2020《工业硅化学分析方法第4部分：杂质元素测定》

GB/T24583.2-2019《钒氮合金硅含量的测定硅钼蓝分光光度法》

JISM8211:2019《铁矿石中二氧化硅测定方法》

检测设备

1.ThermoScientificARLiSpark8860金属分析仪：火花直读光谱仪，可测Si/Al/Fe等12种元素

2.PerkinElmerPinAAcle900T原子吸收光谱仪：检出限达ppb级，配备石墨炉自动进样系统

3.LECOCS844红外碳硫分析仪：测量范围0.0001%-6.000%C/S，精度0.2ppm

4.NetzschSTA449F5同步热分析仪：最高温度1600℃，支持氧化/惰性双气氛切换

5.MalvernPanalyticalAxiosMAXX射线荧光光谱仪：配备4kWRh靶X光管，可测B-U元素

6.ShimadzuICPE-9820等离子体发射光谱仪：轴向观测系统，检出限低至μg/L级

7.MettlerToledoTGA/DSC3+热重分析仪：温度精度0.1℃，支持20-1600℃程序升温

8.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：配备LYNXEYEXE探测器，角度重复性0.0001

9.Agilent7900ICP-MS质谱仪：质量数范围2-260amu，检出限达ppt级

10.HoribaLabRAMHREvolution拉曼光谱仪：空间分辨率＜1μm，激光波长532nm/785nm可选