检测项目

1.K层电子俘获概率测定：测量范围为10^-6-10^-2s^-1，不确定度≤0.5%

2.特征X射线能量分辨率分析：能量范围5-100keV，分辨率≤150eV@5.9keV

3.衰变分支比计算：精度要求0.01%，涵盖EC/β⁺混合衰变模式

4.内转换系数测定：测量范围0.001-1000，采用γ-X符合测量法

5.俘获截面测量：涵盖10^-24-10^-20cm²量级，温度控制0.1℃

检测范围

1.半导体材料：包括高纯锗(HPGe)、硅基探测器材料

2.核医学同位素：如⁶⁷Ga、¹¹¹In等医用放射性核素

3.放射性废物：含⁵⁵Fe、⁴¹Ca等低能β衰变核素废物

4.航天电子器件：抗辐射加固芯片的俘获效应评估

5.地质样品：铀钍系核素的电子俘获衰变链分析

检测方法

ASTME181-17：放射性核素衰变模式标准测试方法

ISO18589-4:2019：环境辐射测量-第4部分：土壤中⁵⁵Fe的测定

GB/T16145-2020：生物样品中放射性核素的γ能谱分析方法

IEC61563-2001：辐射防护仪器-β、X和γ辐射用便携式测量设备

JJG852-2019：工作用γ谱仪检定规程

检测设备

1.ORTECGEM-FX8530高纯锗探测器：能量分辨率127eV@5.9keV，有效探测面积830mm

2.CanberraLynx数字信号处理系统：支持4096道脉冲高度分析

3.BrukerXFlash6160硅漂移探测器：能量分辨率125eV@MnKα,最大计数率500kcps

4.AMETEKMC系列多道分析器：16位ADC转换精度，死时间校正精度0.1%

5.ThermoScientificARLQUANT'XEDXRF光谱仪：配备50W铑靶X光管，探测限达ppm级

6.MirionTechnologiesHPGe同轴探测器：相对效率40%，峰康比62:1@1.33MeV

7.RIGOLDSA800频谱分析仪：频率范围9kHz-3.2GHz，相位噪声-113dBc/Hz@10kHz偏移

8.ORTEC926型真空样品室：极限真空度510^-6Torr，兼容φ50mm样品盘

9.KeysightN6705C直流电源分析仪：电压精度0.025%，电流分辨率1μA

10.LabsphereLMS-7600积分球光谱仪：波长范围200-2500nm，光度线性度0.3%