


概述:检测项目1.K层电子俘获概率测定:测量范围为10-6-10-2s-1,不确定度≤0.5%2.特征X射线能量分辨率分析:能量范围5-100keV,分辨率≤150eV@5.9keV3.衰变分支比计算:精度要求0.01%,涵盖EC/β+混合衰变模式4.内转换系数测定:测量范围0.001-1000,采用γ-X符合测量法5.俘获截面测量:涵盖10-24-10-20cm2量级,温度控制0.1℃检测范围1.半导体材料:包括高纯锗(HPGe)、硅基探测器材料2.核医学同位素:如67Ga、111In等医用放射性核素3.放射
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人委托除外)。
因篇幅原因,CMA/CNAS/ISO证书以及未列出的项目/样品,请咨询在线工程师。
1.K层电子俘获概率测定:测量范围为10-6-10-2s-1,不确定度≤0.5%
2.特征X射线能量分辨率分析:能量范围5-100keV,分辨率≤150eV@5.9keV
3.衰变分支比计算:精度要求0.01%,涵盖EC/β+混合衰变模式
4.内转换系数测定:测量范围0.001-1000,采用γ-X符合测量法
5.俘获截面测量:涵盖10-24-10-20cm2量级,温度控制0.1℃
1.半导体材料:包括高纯锗(HPGe)、硅基探测器材料
2.核医学同位素:如67Ga、111In等医用放射性核素
3.放射性废物:含55Fe、41Ca等低能β衰变核素废物
4.航天电子器件:抗辐射加固芯片的俘获效应评估
5.地质样品:铀钍系核素的电子俘获衰变链分析
ASTME181-17:放射性核素衰变模式标准测试方法
ISO18589-4:2019:环境辐射测量-第4部分:土壤中55Fe的测定
GB/T16145-2020:生物样品中放射性核素的γ能谱分析方法
IEC61563-2001:辐射防护仪器-β、X和γ辐射用便携式测量设备
JJG852-2019:工作用γ谱仪检定规程
1.ORTECGEM-FX8530高纯锗探测器:能量分辨率127eV@5.9keV,有效探测面积830mm
2.CanberraLynx数字信号处理系统:支持4096道脉冲高度分析
3.BrukerXFlash6160硅漂移探测器:能量分辨率125eV@MnKα,最大计数率500kcps
4.AMETEKMC系列多道分析器:16位ADC转换精度,死时间校正精度0.1%
5.ThermoScientificARLQUANT'XEDXRF光谱仪:配备50W铑靶X光管,探测限达ppm级
6.MirionTechnologiesHPGe同轴探测器:相对效率40%,峰康比62:1@1.33MeV
7.RIGOLDSA800频谱分析仪:频率范围9kHz-3.2GHz,相位噪声-113dBc/Hz@10kHz偏移
8.ORTEC926型真空样品室:极限真空度510-6Torr,兼容φ50mm样品盘
9.KeysightN6705C直流电源分析仪:电压精度0.025%,电流分辨率1μA
10.LabsphereLMS-7600积分球光谱仪:波长范围200-2500nm,光度线性度0.3%
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"轨道电子俘获检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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