检测项目

1.K层电子俘获概率测定:测量范围为10-6-10-2s-1,不确定度≤0.5%

2.特征X射线能量分辨率分析:能量范围5-100keV,分辨率≤150eV@5.9keV

3.衰变分支比计算:精度要求0.01%,涵盖EC/β+混合衰变模式

4.内转换系数测定:测量范围0.001-1000,采用γ-X符合测量法

5.俘获截面测量:涵盖10-24-10-20cm2量级,温度控制0.1℃

检测范围

1.半导体材料:包括高纯锗(HPGe)、硅基探测器材料

2.核医学同位素:如67Ga、111In等医用放射性核素

3.放射性废物:含55Fe、41Ca等低能β衰变核素废物

4.航天电子器件:抗辐射加固芯片的俘获效应评估

5.地质样品:铀钍系核素的电子俘获衰变链分析

检测方法

ASTME181-17:放射性核素衰变模式标准测试方法

ISO18589-4:2019:环境辐射测量-第4部分:土壤中55Fe的测定

GB/T16145-2020:生物样品中放射性核素的γ能谱分析方法

IEC61563-2001:辐射防护仪器-β、X和γ辐射用便携式测量设备

JJG852-2019:工作用γ谱仪检定规程

检测设备

1.ORTECGEM-FX8530高纯锗探测器:能量分辨率127eV@5.9keV,有效探测面积830mm

2.CanberraLynx数字信号处理系统:支持4096道脉冲高度分析

3.BrukerXFlash6160硅漂移探测器:能量分辨率125eV@MnKα,最大计数率500kcps

4.AMETEKMC系列多道分析器:16位ADC转换精度,死时间校正精度0.1%

5.ThermoScientificARLQUANT'XEDXRF光谱仪:配备50W铑靶X光管,探测限达ppm级

6.MirionTechnologiesHPGe同轴探测器:相对效率40%,峰康比62:1@1.33MeV

7.RIGOLDSA800频谱分析仪:频率范围9kHz-3.2GHz,相位噪声-113dBc/Hz@10kHz偏移

8.ORTEC926型真空样品室:极限真空度510-6Torr,兼容φ50mm样品盘

9.KeysightN6705C直流电源分析仪:电压精度0.025%,电流分辨率1μA

10.LabsphereLMS-7600积分球光谱仪:波长范围200-2500nm,光度线性度0.3%